Halbleitertester

Hier finden Sie aktuelle News, Produktberichte, Fachartikel und Hintergrundberichte zum Thema "Halbleitertester".
Das neue PXIe-6570 basiert auf der offenen PXI-Plattform des  Semiconductor Test Systems.

Labormesstechnik-Halbleiterprüfsystem

PXI-Modul für digitalen Test von Halbleiterbauelementen

07.11.2016Das Digital Pattern Instrument bietet wichtige Hard- und Softwarefeatures für die Erstellung intelligenterer Halbleiterprüfsysteme. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Die-Handling-System

Für fortschrittliche 2.5D- und 3D-Halbleiter

04.11.2016Advantest stellt mit dem Die-Handler HA1000 eine kostengünstige Testlösung für die KGD-Sortierung (Known Good Die) vor dem IC-Packaging vor. Das System wurde für das Handling unterschiedlichster Bauteile entwickelt, von großen Hochleistungsserver-/GPU-Bauteilen bis hin zu kleinen SoC- und Memory-Bauteilen/-Stacks, wie HBM2. mehr...

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Baugruppenfertigung-Feinmetall: Weitere Investition in Standort Herrenberg

Neue Produktionslinie für Prüfkarten und neues Forschungslabor

14.07.2016Feinmetall investiert weiter in den Produktions- und Entwicklungsstandort Herrenberg. Rund 6 Mio. Euro fließen in die Produktion und die Entwicklung von Prüfkarten für die Halbleiterindustrie: Neue Reinräume und Produktionsanlagen, Testequipment und eigens für Feinmetall konzipierte Spezialmaschinen sorgen für mehr Kapazität, niedrigere Fehlerquoten und eine Verkürzung der Durchlaufzeiten. mehr...

Baugruppenfertigung-Support à la Carte

Erweiterung des Testparks um weitere High-End Systeme

23.06.2016Testdienstleister müssen mit den fortschreitenden technologischen Entwicklungen stets Schritt halten, um im Wettbewerb bestehen zu können. Neben umfangreichen Dienstleistungen gilt es allerdings auch, entsprechendes Equipment nicht nur bereitzustellen, sondern auch laufend zu investieren. mehr...

LX Instruments zeigt das PXI-basierte Halbleitertestsystem TS-960 Marvin Test Solutions auf der Productronica 2015.

Testgeräte + Prüfplätze-TS-960

Halbleiter- und Funktionstestsystem auf PXI-Plattform

03.11.2015Marvin Test Solutions, ein kalifornischer Hersteller von PXI-basierten automatisierten Testlösungen, stellt auf der diesjährigen Productronica neue Produkte für den Halbleiter- und Funktionstest vor. Höhepunkt ist das PXI-basierte Halbleitertestsystem TS-960, das die TS-900-Plattform abrundet. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Kosten bei der Halbleiterprüfung senken

Automatisierte Testsysteme auf PXI-Basis

03.11.2014Semiconductor Test Systems, kurz STS, heißen die PXI-basierten automatisierten Testsysteme von National Instruments. Sie weisen eine offene, plattformbasierte Architektur auf und kombinieren modulare Messtechnik und Systemdesignsoftware für den HF- und Mixed-Signal-Produktionstest. mehr...

Baugruppenfertigung-Spezial-Equipment für den Test von Halbleiterbauteilen

Strenge Auslese

06.11.2012Den Entwicklungen auf dem Halbleitermarkt folgend, müssen sich die Hersteller von Halbleitertestsystemen schnell anpassen, um am Ball zu bleiben. Mit der Vorstellung weiterer Testmodule sieht sich Avtech Electrosystems im Schulterschluss mit dem Distributor Schulz-Electronic gut gestärkt, um auch in Europa künftig mit Halbleitertestern zu punkten. mehr...

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Bonding + Assembly-T2000-Testsystem weltweit etabliert

Advantest installiert 1.000tes T2000-System

12.12.2011Ein weltweit agierender Halbleiterhersteller hat das tausendste T2000-Testsystem von Advantest installiert. Das System wird in der Serienfertigung von CPUs und SoC-Bauteilen eingesetzt. mehr...

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Baugruppenfertigung-Testkosten senken

PXI für den Halbleitertest

09.12.2011Die ATE-Investitionskosten in der Halbleiterindustrie sind als prozentualer Anteil vom mittleren Verkaufspreis eines ICs (ASP) kontinuierlich gesunken – von einem Maximalwert von 5 % in 2001 auf etwa 1 % in 2010. Real haben sich die Kosten für den Test eines Bauteils aber nicht im selben Maße anpassen können. Wie können also diese Testkosten senken? mehr...

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