Leiterplattentest

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Die internen Dioden sind zwischen einem Anschluss und Gnd zu messen.

Testgeräte + Prüfplätze-Fehlern auf der Spur

Pionierlösungen für Leiterplattentests

05.02.2016Moderne Leiterplatten sind mit größerer Lagenzahl und deutlich kleineren Strukturen im Vergleich zu den 1990er-Jahren erheblich komplexer geworden. Nachdem die Hersteller begonnen haben, sowohl passive, als auch aktive Bauteile wie Mikrocontroller, Spannungsregler und sogar Leistungsbauteile wie MOSFETs in die Leiterplatte einzubetten, ergeben sich auch ganz neue Anforderungen an die elektrischen Tests. mehr...

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