Mikroskope

Hier finden Sie aktuelle News, Produktberichte, Fachartikel und Hintergrundberichte zum Thema "Mikroskope".
Evo Cam bietet hohe Bildqualität bei einfacher, intuitiver Bedienung.

Baugruppenfertigung-Für ultrascharfe Bilder

Messmikroskop-Serie erweitert

02.11.2016Vision Engineering stellt auf der electronica ein neues Digitalmikroskop vor und zeigt seine Messmikroskop-Serie Swift-Duo mit interessanten Neuerungen. mehr...

Vision Engineering-Lynx_EVO

Baugruppenfertigung-3D-Bilder für produktives Arbeiten

Okularloses Stereomikroskop

12.04.2016Mit dem Lynx EVO hat Vision Engineering ein Stereomikroskop entwickelt, dass das Betrachten und Analysieren von Komponenten und Proben mittels dreidimensionalen Stereobildern erlaubt. mehr...

Flexia-BGA-Inspektionssystem liefert scharfe Bilder von Lotperlen unter BGAs, µBGA, CSP und Flip-Chip-Packages bis hin zu 10 Reihen und einem Mindestabstand zur Leiterplatte von 40 µm.

Baugruppenfertigung-Flexibles BGA-Inspektionssystem

Videomikroskop zur zuverlässigen Fehlerdetektion

06.04.2016Die Qualitätskontrollen elektronischer Baugruppen werden durch die steigenden Packungsdichten anspruchsvoller. Verborgene Lötverbindungen und der geringe Abstand zur Leiterplatte erschweren die traditionelle Inspektion nach der Bestückung mit BGA-Schaltungen. Inspektionssysteme zur einfachen und verlässlichen visuellen Inspektion von Lötverbindungen an BGA, µBGA, CSP und Flip-Chip-Packages sind da gefragt. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Ultraschnelles Rasterkraftmikroskop

Alle Parameter automatisch konfigurieren

15.10.2015Das ultraschnell scannende Rasterkraftmikroskop 9500 von Keysight zeichnet sich durch extrem hohe Scan-Raten von bis zu 2 s/Bild aus und besteht aus einer neuen Software, einem neuen breitbandigen digitalen Controller und einer neu entwickelten Scaneinheit. mehr...

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Labormesstechnik-Stereo microscope without eyepieces

Complete stereo view of 3-dimensional subjects

28.09.2015Lynx EVO of Vision Engineering is a high productivity stereo microscope without eyepieces, powering productivity through stunning 3D imaging. The eyepiece-less optics liberates users from restrictive working practices. mehr...

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Labormesstechnik-Scanning Electron Microscope with EDS

High resolution in a compact format

24.09.2015With the Field Emission systems (FESEM) 8500B Keysight has introduced a novel technology to replace the electromagnetic lenses with electrostatic ones, allowing the whole column to be shrunk from typically 50 cm to 3.8 cm in total height. mehr...

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Firmen und Fusionen-Laser auf Forschungsmission im Weltraum

Lasersysteme von Omicron bestehen Härtetest bei Raketenflug

17.07.2015Der Laser- und LED-System-Hersteller Omicron, Rodgau-Dudenhofen, hat die hohe Stabilität seiner Laser-Combiner, die mit vier Diodenlasern ausgerüstet waren, an Bord einer Forschungsrakete bewiesen. Sie überstanden dabei Belastungskräfte mit bis zu 25-facher Erdbeschleunigung. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Optische Inspektion dicht bestückter Platinen

4-Segment-Ringlicht für Video-Mikroskope

22.06.2015Technolab hat auf der Messe SMT Hybrid Packaging 2015 ein 4-Segment-Ringlicht für manuelle Inspektion vorgestellt, mit dem auch dicht bestückte Platinen unter schwierigen Bedingungen sehr gut ausleuchtet werden können. Dazu können einzelne Segmente nach Bedarf zu- oder abgeschaltet werden. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-2D-Bildanalyse

Multikanalexperimente überwachen

11.09.2014Die Version 4.0 der Leica Application Suite Advanced Fluorescence (LAS AF) hat Leica Microsystems herausgebracht. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Sauberkeitsanalyse

Mikroskop untersucht Rückstände

10.09.2014Der Filter-Inspector von Olympus ist eine mikroskopbasierte, automatisierte Systemlösung, welche die normgerechte und reproduzierbare Analyse, Klassifizierung und Dokumentation von Rückständen auf Membranfiltern ermöglicht. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Konfokalmikroskop

Flächen- statt Punktdetektor

03.09.2014Während klassische konfokale Mikroskope einen Punkt auf der Probe beleuchten und das emittierte Fluoreszenzsignal mit einem Punktdetektor detektieren, nimmt bei dem aktuellen LSM 880 mit Airyscan von Zeiss ein Flächendetektor mit 32 Elementen das gesamte Licht einer Airy-Scheibe gleichzeitig auf. mehr...

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Optoelektronik-Edmund Optics Deutschland Katalog 2014

Katalog für Optiken und Optische Baugruppen

19.05.2014Für 2014 erscheint der Katalog für Optiken und Optische Baugruppen von Edmund Optics. Die Bereiche des Kataloges umschließen die Optik, Laseroptik, Optomechanik, Laser, Mikroskopie, Objektive, Kameras, Beleuchtung, Testcharts sowie Testen und Messen. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Alle Details

Mikroskopkamera mit Full-HD-Bild und großem Arbeitsabstand

01.11.2013Mit der Entwicklung der Mikroskop-Kamera W30xHD-Freesight kombiniert Optilia die Vorteile eines großen Arbeitsabstands zum Objekt mit einer hohen Full-HD-Bildqualität. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Materialmikroskop DM2700 M

Inspektion mit Weißlicht

12.06.2013Für die Routineinspektion in Metallographie, Geowissenschaften, Forensik oder industrielle Qualitätskontrolle ist das Materialmikroskop DM2700 M von Leica Microsystems konzipiert. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Videomikroskopie

Mit dem Basic Inspector die Baugruppe fest im Blick

13.03.2013Der Basic Inspector ist die einfachste und kostengünstigste Variante der Inspektionsysteme von Technolab, ohne Einbußen an Bildqualität oder Auflösung. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Optische Inspektion

Lösungen für die visuelle und automatische Kontrolle von Baugruppen

13.03.2013Auf der SMT Hybrid Packaging in Nürnberg stellt die Opto GmbH aus Gräfelfing bei München optische Inspektionssysteme für elektronische Baugruppen aus. Dabei handelt es sich um visuelle Systeme für die Sichtkontrolle. mehr...

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Optische Größen-Leica Microsystems: LAS-Module für metallographische Anwendungen

Seit 50 Jahren im Dienst der Bildanalyse

04.11.2012In diesem Jahr feiert die Bildanalyse ihren 50-jährigen Geburtstag, und Leica Microsystems war von Anfang an dabei. mehr...

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Baugruppenfertigung-Digitalmikroskop-Familie

2D- und 3D-Oberflächenmessung

27.05.2011Die Mikroskopfamilie DVM5000, DVM3000 und DVM2000 Mobile von Leica umfasst schnelle Digitalmikroskope, die ihre Stärke in quantitativer 2D- und 3D-Oberflächenmessung zeigen. Das mikroskopische Bild wird direkt auf einem hochauflösenden Monitor dargestellt. mehr...

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Optische Größen-Verbindet Licht- und Elektronenmikroskop

Schnittstelle Shuttle & Find

16.10.2009Als integrierte Lösung für korrelative Mikroskopie in der Materialanalyse schafft Shuttle & Find eine einfach zu bedienende Schnittstelle zwischen Licht- und Elektronenmikroskop. mehr...

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Optische Größen-Im Reich des Allerkleinsten

Stereo-Zoom-Mikroskop

06.10.2009Martin hat ein ergonomisch wertvolles Stereo-Zoom-Mikroskop auf den Markt gebracht, mit dem der Hersteller filigrane Arbeiten an mikroskopisch kleinen SMD-Bauelementen erheblich erleichtert. mehr...

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