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Pikosekundenlaser

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Mit diesem Testaufbau kann der Einschlag eines ionisierenden Teilchens in ein elektronisches Bauteil nachgeahmt werden.
Leiterplattenfertigung-Kartierung von Single Event Effects

Anfällige Regionen im elektronischen Bauteil lokalisieren

24.01.2018- FachartikelSingle Event Effects (SEE) entstehen, wenn Teilchen der kosmischen, ionisierenden Strahlung wie Neutronen oder Protonen in elektronische Bauteile einschlagen. Dabei können sowohl temporäre Fehlfunktionen als auch permanente Schäden entstehen, welche ein elektronisches Gerät irreparabel funktionsunfähig machen. Wissenschaftler versuchen nun mit einem Pikosekundenlaser, die anfälligen Regionen an elektronischen Bauteilen zu lokalisieren. mehr...

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