Testsysteme

Hier finden Sie aktuelle News, Produktberichte, Fachartikel und Hintergrundberichte zum Thema "Testsysteme".
Das neue PXIe-6570 basiert auf der offenen PXI-Plattform des  Semiconductor Test Systems.

Labormesstechnik-Halbleiterprüfsystem

PXI-Modul für digitalen Test von Halbleiterbauelementen

07.11.2016Das Digital Pattern Instrument bietet wichtige Hard- und Softwarefeatures für die Erstellung intelligenterer Halbleiterprüfsysteme. mehr...

Die integrierte E7760A-M1650A-Testlösung ermöglicht sowohl HF- als auch ZF-Messungen für Signale im 60-GHz-Bereich.

Labormesstechnik-Breitband-Test-Transceiver

OTA-Tests von 60-GHz-Signalen nach IEEE 802.11ad

07.11.2016Der neue Breitband-Transceiver E7760A unterstützt den Funkstandard IEEE 802.11ad und OTA-Tests (Over-the-air) von 60-GHz-Signalen mit 2 GHz Bandbreite. mehr...

Test Contactor YED274-Kelvin

Testgeräte + Prüfplätze-Manuelle Prüfung oder Volumentest

Kelvin-Testsockel für QFN, SOP und QFP

20.10.2016Mit den Kelvin-Testsockeln von Yamaichi Electronics für den Einsatz im Labor und Testfloor lassen sich Halbleiterbausteine im SOP, QFP und QFN-Gehäuse zuverlässig testen. mehr...

Lithium-Ionen-Akkus sind auch als Fahrzeug-Starterbatterien im Kommen.

Automotive-Gut starten

BMS-Testsystem für Lithium-Ionen-Anlasserbatterien

12.10.2016Die Lithium-Ionen-Technologie (LiIo) hat sich längst in der Automobilindustrie etabliert und steht inzwischen sogar als Ersatz für die klassische Blei-Säure-Starterbatterie zur Diskussion. Der Automobilzulieferer Marquardt suchte daher ein vielseitiges Testsystem für Batterie-Management-Systeme, das auch Lithium-Ionen-Starterbatterien in der erforderlichen Dynamik und Genauigkeit simuliert, und wurde schließlich beim Testing-Anbieter Micronova fündig. mehr...

Die verschiedenen Schichten des PCIe-Protokolls erfordern jeweils eigene Tests.

Simulation + Verifizierung-Validierung

PCIe-Protokolle erfolgreich validieren

10.11.2015Bei der Validierung eines Gerätes nach PCI-SIG-Standard müssen Protokollfehler schnell, sicher und effizient erkannt, analysiert und behoben werden. Keysight erklärt, was Debugging-Werkzeuge und Protokoll-Exerciser leisten müssen und wie sie einsetzbar sind. mehr...

Boundary-Scan-System JFT/Labview beim Test eines D/A-Wandlers.

Testgeräte + Prüfplätze-Testautomatisierung

Boundary-Scan in Testsysteme integrieren

10.11.2015Zur Testautomatisierung von analogen und digitalen Schaltungen bietet JTAG Technologies Boundary-Scan-Komponenten für die Integration in Testsysteme unterschiedlicher Hersteller. mehr...

LX Instruments zeigt das PXI-basierte Halbleitertestsystem TS-960 Marvin Test Solutions auf der Productronica 2015.

Testgeräte + Prüfplätze-TS-960

Halbleiter- und Funktionstestsystem auf PXI-Plattform

03.11.2015Marvin Test Solutions, ein kalifornischer Hersteller von PXI-basierten automatisierten Testlösungen, stellt auf der diesjährigen Productronica neue Produkte für den Halbleiter- und Funktionstest vor. Höhepunkt ist das PXI-basierte Halbleitertestsystem TS-960, das die TS-900-Plattform abrundet. mehr...

Testgeräte + Prüfplätze-Offen und flexibel

Kombinationstest-Hard- und Software-Plattform

07.11.2007Während noch vor wenigen Jahren die Testlandschaft in der Elektronikindustrie geprägt war vom traditionellen Ansatz spezialisierte Systeme für Automated Optical Inspection (AOI), In-Circuit-Test (ICT) und Funktionstest (FT) einzusetzen, besteht aufgrund der immer kürzer werdenden Innovationszyklen bei gleichzeitig erhöhtem Kostendruck die Forderung nach flexibleren Kombinationstestsystemen. Diesen Anforderungen Rechnung tragend hat die Konrad Technologie aus Radolfzell am Bodensee bereits vor drei Jahren die erste Version ihrer erfolgreichen Testplattform Leon vorgestellt, die nun – um weitere Funktionen erweitert – in ihrer neuesten Generation vorliegt. mehr...

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