Testsysteme

Hier finden Sie aktuelle News, Produktberichte, Fachartikel und Hintergrundberichte zum Thema "Testsysteme".
Ohne echtzeifähige Entwicklungs- und Test­systeme können weder E-Fahrzeuge noch Smart-Grid- oder andere Lösungen auf den Markt gebracht werden.
Labormesstechnik-HiL und RCP: Von Elektromobilität bis Smart-Grid

Komplettlösungen für Entwicklung und Test

10.05.2017- FachartikelElektrische Antriebe haben in Automotive-Anwendungen zahlreiche Vorteile – von der Lenkunterstützung bishin zu Traktionsantrieben. Mit HiL- und RCP-Systemen lassen sich Steuergeräte, die mit Leistungen von mehreren hundert Kilowatt arbeiten, oder Batterien, deren Zellen mit wenigen Millivolt Genauigkeit vermessen werden,gefahrlos unter extremen Bedingungen entwickeln und testen. So lassen sich alle unterschiedlichen Motor­varianten, Batterietypen, Netzeinflüsse und Antriebsstrategien der Steuergeräte abdecken– in E-Fahrzeugen, in Ladestationen, im Smart-Grid und anderen Applikationen. mehr...

PXI-, PCI- und Ethernet-LXI-Produkte Pickering Interface
Baugruppenfertigung-Schnelle Durchgangs- und Isolationsprüfungen

PXI-, PCI- und Ethernet-LXI-Produkte

21.04.2017- ProduktberichtPickering Interfaces präsentiert ein umfassendes Programm an PXI-, PCI- und Ethernet-LXI-Produkten und Softwarelösungen. Zu den Highlights gehört das modulare USB/LXI-Chassis 60-104 mit zwei Slots. mehr...

Überzeugt hat unter anderem die Schnelligkeit der Signalübertragung zwischen Tester und PC über die USB2-Schnittstelle und das rasche Abarbeiten der Befehle im Rechner. Das ist vor allem dem sehr schnellen Mikroprozessor mit RISC/DSP-Struktur im zentralen Tester-Steuermodul zu verdanken, der alle Aktionen in Echtzeit abarbeitet.
Testgeräte + Prüfplätze-Steuerungen und Bedienterminal für Standheizungen online testen

Prüfungen am laufenden Band

08.02.2017- FachartikelBei kaltem Herbst und noch kälterem Winter laufen die Produkte von Digades, Zittau, zur Höchstleistung auf. Steuerungen und Bedienterminal für Standheizungen sind nämlich Teil ihrer Kompetenz. Und wenn schon, dann wollen Autofahrer ein rasches Aufheizen ihrer Standheizung. Gestartet wird die Anlage mit einer Fernbedienung. Und wie von Zauberhand erwärmt sich das Innere des Wagens innerhalb kurzer Zeit. Das Aufheizen übernimmt die integrierte Standheizung. mehr...

Abbildung 1. Beispiel für ein flexibles Testsystem zur Erzeu¬gung und Ana¬lyse von 5G-Signalen.
Mobilfunk-5G unterstützt Daten­raten bis 10 Gbit/s

Flexibles Testsystem für die Erzeugung und Analyse von 5G-Signalen

30.01.2017- Sponsored PostSchon während der Einführung von LTE und LTE-Advanced wird mit Hochdruck an der Techno­logie der nächs­ten Gene­ra­tion, 5G, geforscht. 5G wird voraus­sicht­lich ein engmaschiges, hoch­integriertes Netz­werk aus kleinen Zellen sein, die Daten­raten bis 10 Gbit/s unter­stützen, Roundtrip-Latenzzeiten von 1 ms oder weniger aufweisen und Funkschnittstellen unter­schied­licher Art im Mikro­welle- und Milli­meter­wellen­bereich nutzen. mehr...

Das neue PXIe-6570 basiert auf der offenen PXI-Plattform des  Semiconductor Test Systems.
Labormesstechnik-Halbleiterprüfsystem

PXI-Modul für digitalen Test von Halbleiterbauelementen

07.11.2016- ProduktberichtDas Digital Pattern Instrument bietet wichtige Hard- und Softwarefeatures für die Erstellung intelligenterer Halbleiterprüfsysteme. mehr...

Die integrierte E7760A-M1650A-Testlösung ermöglicht sowohl HF- als auch ZF-Messungen für Signale im 60-GHz-Bereich.
Labormesstechnik-Breitband-Test-Transceiver

OTA-Tests von 60-GHz-Signalen nach IEEE 802.11ad

07.11.2016- ProduktberichtDer neue Breitband-Transceiver E7760A unterstützt den Funkstandard IEEE 802.11ad und OTA-Tests (Over-the-air) von 60-GHz-Signalen mit 2 GHz Bandbreite. mehr...

Test Contactor YED274-Kelvin
Testgeräte + Prüfplätze-Manuelle Prüfung oder Volumentest

Kelvin-Testsockel für QFN, SOP und QFP

20.10.2016- ProduktberichtMit den Kelvin-Testsockeln von Yamaichi Electronics für den Einsatz im Labor und Testfloor lassen sich Halbleiterbausteine im SOP, QFP und QFN-Gehäuse zuverlässig testen. mehr...

Lithium-Ionen-Akkus sind auch als Fahrzeug-Starterbatterien im Kommen.
Automotive-Gut starten

BMS-Testsystem für Lithium-Ionen-Anlasserbatterien

12.10.2016- FachartikelDie Lithium-Ionen-Technologie (LiIo) hat sich längst in der Automobilindustrie etabliert und steht inzwischen sogar als Ersatz für die klassische Blei-Säure-Starterbatterie zur Diskussion. Der Automobilzulieferer Marquardt suchte daher ein vielseitiges Testsystem für Batterie-Management-Systeme, das auch Lithium-Ionen-Starterbatterien in der erforderlichen Dynamik und Genauigkeit simuliert, und wurde schließlich beim Testing-Anbieter Micronova fündig. mehr...

Die verschiedenen Schichten des PCIe-Protokolls erfordern jeweils eigene Tests.
Simulation + Verifizierung-Validierung

PCIe-Protokolle erfolgreich validieren

10.11.2015- Application NoteBei der Validierung eines Gerätes nach PCI-SIG-Standard müssen Protokollfehler schnell, sicher und effizient erkannt, analysiert und behoben werden. Keysight erklärt, was Debugging-Werkzeuge und Protokoll-Exerciser leisten müssen und wie sie einsetzbar sind. mehr...

Boundary-Scan-System JFT/Labview beim Test eines D/A-Wandlers.
Testgeräte + Prüfplätze-Testautomatisierung

Boundary-Scan in Testsysteme integrieren

10.11.2015- Application NoteZur Testautomatisierung von analogen und digitalen Schaltungen bietet JTAG Technologies Boundary-Scan-Komponenten für die Integration in Testsysteme unterschiedlicher Hersteller. mehr...

LX Instruments zeigt das PXI-basierte Halbleitertestsystem TS-960 Marvin Test Solutions auf der Productronica 2015.
Testgeräte + Prüfplätze-TS-960

Halbleiter- und Funktionstestsystem auf PXI-Plattform

03.11.2015- FachartikelMarvin Test Solutions, ein kalifornischer Hersteller von PXI-basierten automatisierten Testlösungen, stellt auf der diesjährigen Productronica neue Produkte für den Halbleiter- und Funktionstest vor. Höhepunkt ist das PXI-basierte Halbleitertestsystem TS-960, das die TS-900-Plattform abrundet. mehr...

Testgeräte + Prüfplätze-Offen und flexibel

Kombinationstest-Hard- und Software-Plattform

07.11.2007- FachartikelWährend noch vor wenigen Jahren die Testlandschaft in der Elektronikindustrie geprägt war vom traditionellen Ansatz spezialisierte Systeme für Automated Optical Inspection (AOI), In-Circuit-Test (ICT) und Funktionstest (FT) einzusetzen, besteht aufgrund der immer kürzer werdenden Innovationszyklen bei gleichzeitig erhöhtem Kostendruck die Forderung nach flexibleren Kombinationstestsystemen. Diesen Anforderungen Rechnung tragend hat die Konrad Technologie aus Radolfzell am Bodensee bereits vor drei Jahren die erste Version ihrer erfolgreichen Testplattform Leon vorgestellt, die nun – um weitere Funktionen erweitert – in ihrer neuesten Generation vorliegt. mehr...

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