Wafertest

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Bild 1: Typischer Aufbau eines Messplatzes zur Charakterisierung von Halbleiter-Produkten auf der Wafer-Ebene von Keysight Technologies und Cascade Microtech.

Testgeräte + Prüfplätze-On-Wafer-Messungen

Schlüsselfertige Messplätze – schnell aufgebaut, konfiguriert und betriebsbereit

18.07.2016Die Entwicklungszyklen in der Halbleitertechnik werden zunehmend kürzer und die Anforderungen an die Messgenauigkeit in der Produktentwicklung und Produktionskontrolle steigen. Der zeitliche Aufwand zum Aufbau und zur Konfiguration eines entsprechenden Mess-Systems ist daher ein wesentlicher Faktor für die Time-to-Market neuer Chip-Produkte. Keysight Technologies und Cascade Microtech haben dafür gemeinsam eine verhältnismäßig schnelle Lösung entwickelt. mehr...

Testgeräte + Prüfplätze

Hohe Parallelfähigkeit beim Wafertest

24.04.2002Unter dem Markenzeichen ViProbe stellt Feinmetall vertikale Prüfkarten mit hoher Parallelfähigkeit her. Dadurch werden beim Test von Halbleitern erhebliche Zeiteinsparungen erzielt. Diese Prüfkarte wird besonders beim Test von Memory- und Smart Card-Halbleitern zur Anwendung. Konstruktion und Aufbau dieser vertikalen Familie von Prüfkarten sorgen für hoher Zuverlässigkeit im Testbetrieb. mehr...

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