Neuesten Trends im Bereich RF-Chip-Testing, PXI-basierte Messgeräte, Adapterlösungen sowie standardisierte Komplettsysteme werden auf dem Technologietag vorgestellt.

Neuesten Trends im Bereich RF-Chip-Testing, PXI-basierte Messgeräte, Adapterlösungen sowie standardisierte Komplettsysteme werden auf dem Technologietag vorgestellt.National Instruments

In informativen Technologie- und Anwendervorträgen werden die neuesten Trends im Bereich RF-Chip-Testing, PXI-basierte Messgeräte, Adapterlösungen sowie standardisierte Komplettsysteme vorgestellt. Der parallel stattfindende Workshop bietet zusätzlich die Möglichkeit, mehr über die Vorteile von RF-Messtechnik auf Basis der PXI-Plattform zu erfahren und sich anhand praxisorientierter Übungen mit deren Handhabung vertraut zu machen.

Der Bereich RF-Test erfährt durch das Internet der Dinge gerade in Deutschland einen besonders starken Aufschwung. Er ist besonders aus Anwendungen in der Automobilindustrie wie eCALL, Network Access Devices (NADs) und Telematics Control Units (TCUs) sowie aus vielen weiteren Wireless-Schnittstellen, beispielsweise in Smart Homes und im Consumer-Bereich, nicht mehr wegzudenken.

Die begleitende Ausstellung von NOFFZ, NI und deren Partnerfirmen gewährt einen tiefen Einblick in erfolgreich realisierte Projekte und eingesetzte Technologien. Die Kombination aus Fachvorträgen, Gesprächen und der begleitenden Ausstellung bietet eine einmalige Gelegenheit zum Erfahrungsaustausch und Networking.

Folgende Themenschwerpunkte erwarten die Teilnehmer:

  • Module Device Test
  • Communication System Design
  • RF Manufacturing Test
  • Multi-DUT RF Test für Cellular- und Connectivity-Anwendungen
  • Non-Signaling Chip Testing