Auf der SEMICON Europa stellte SZ Testsysteme erstmalig einen neuen Universalpin (VPIN) vor, der speziell für die Belange von Automotive-Kunden entwickelt wurde. Der VPIN bietet einen hohen Spannungshub (von -2 V bis +28 V), verbunden mit hohen Datenübertragungsraten (bis 50 MHz) an. Damit wird es möglich, komplexe Automotivebausteine analog und digital optimal zu testen. Durch die Fähigkeit zum Parallel- und Multi-Site-Test reduzieren sich Testzeiten und Produktionskosten. Die so genannte True-Tester-Per-Pin-Konzeption, nach der jeder PIN eigene Ressourcen (Strom-/Spannungsquellen, Treiber, Comparator, Load, Memory) besitzt, erhöht die Flexibilität und vermindert den Applikationsaufwand. Der VPIN ist für die Testerfamilie M3650, M3300 Piranha, M3660 Falcon und M3900 Kodiak erhältlich.