Die Testsysteme von Konrad Technologies bieten die Realisierung des Tests protokollbasierter Bauteile mittels einer Plattform für den gesamten Lebenszyklus eines Produktes, wie z. B. eines RFID-Tags. Von der Validierung der ersten Muster über die Charakterisierung bis hin zum Produktionstest können die ICs mit derselben Testplattform getestet werden. Auf einfachste Weise können neue Testschritte implementiert, Varianten der Testprogramme gehandhabt und vielfältige Analysen betrieben werden.

Für die Anforderungen der Serienproduktion sind entsprechende Software-Anbindungen vorgesehen, die ein automatisches Datenmanagement im Hintergrund durchführen. Softwarebibliotheken erlauben es, einmal definierte Testinhalte in jedem Testumfeld wieder zu verwenden, was zu einer drastischen Reduzierung der Produkteinführungszeiten führt. Mit der skalierbaren Testsystemplattform, basierend auf dem PXI-Industriestandard, bietet Konrad Technologies ein flexibles, konfigurierbares Testsystem, welches auf die Bedürfnisse moderner Halbleitertests angepasst wird.

Das modulare Grundsystem umfasst entsprechende Einheiten, die bedarfsgerecht konfiguriert werden und die Signal- und Informations- Vorverarbeitungen durchführen. Verschiedene Frontends dienen zur Signalaufbereitung und zum Empfang der Signale. Um einen parallelen Test frei skalieren zu können, erlaubt die Systemarchitektur sowohl die Bestückung mit mehreren Frontends des gleichen Typs als auch eine Mischbestückung. Dadurch können hochparallele Testsysteme realisiert werden.

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