Verschiedene Fenster bieten einen umfassenden Blick auf Boundary-Scan-Anwendungen

Verschiedene Fenster bieten einen umfassenden Blick auf Boundary-Scan-AnwendungenJTAG

Diese intuitive Entwicklungsumgebung beinhaltet automatische Generatoren für zahlreiche Testapplikationen und In-System-Programmier-Aufgaben. Für spezielle Anwendungen, die in Halbleiterchips eingebettete Instrumente verwenden, steht die leistungsfähige Skriptsprache Python zur Verfügung. Anhand der Bauteilmodelle aus einer Bibliothek analysiert die Entwicklungsumgebung die unterschiedlichen Verbindungstypen und ermittelt, wie auf die Netze mittels Boundary-Scan zugegriffen werden kann und wie diese beobachtet werden können. Integrierte Testabdeckungs- und Analysereports vereinfachen noch vor der Layoutgenerierung die Optimierung der Testbarkeit des Designs. Die Ergebnisse können mit dem JTAG Visualizer verlinkt werden, sodass sie in den Schaltplänen und der Layoutansicht betrachtet werden können. Dieser wandelt Nachrichten verschiedenster Werkzeuge  in Hervorhebungen in der Schaltplan- und Layoutansicht um. So werden pure Vermutungen über Fehlerursachen eliminiert und papiergebundenes Arbeiten minimiert. Dieses Werkzeug kann separat oder integriert in die Testprozesse genutzt werden. Durch Verlinkung mit ProVision setzt und beobachtet man Randbedingungen der Netze direkt im Schaltplan und erkennt, wie sich die Testabdeckung verbessert. Gefundene Fehler können sofort markiert werden. Bei der Baugruppen-Reparatur zeigt JTAG-Visualizer die Position der erkannten Fehler an.

Productronica 2013: Halle A1, Stand 458