VIP 2017

Bild 1: Georg Plasswilm, Geschäftsführer der National Instruments Germany, setzte den Startpunkt zu VIP 2017. Hans Jaschinski

Wie auf der NI Week in Austin schon längere Zeit üblich, wurden die Keynotes auf der VIP2017 erstmals allgemein zugänglich als Live-Stream übertragen. Die Begrüßung der VIP-2017-Teilnehmer übernahm wie immer der Geschäftsführer der National Instruments Germany. Diese Funktion hat seit knapp einem Jahr Georg Plasswilm inne. Er gab nicht, wie sonst üblich, Informationen zur internationalen oder lokalen National-Instruments-Geschäftslage.

VIP 2017

Bild 2: Rahman Jamal, NI Global Technology und Marketing Direktor, ging in seiner Keynote auf die Trends in der Messtechnik ein. Hans Jaschinski

Rahman Jamal, NI Global Technology und Marketing Direktor, übernahm den technischen Part und gewährte in seiner Keynote einen Einblick in neueste Trends: „Große Trends wie das Industrial IoT, elektrische Fahrzeuge, der zukünftige Mobilfunkstandard 5G und das maschinelle Lernen werden den zukünftigen Weg bestimmen“. Zu den Präsentatoren der Donnerstags-Keynote, die unter dem Motto „Die Lösungen von morgen entwickeln“ stand, zählten neben Prof. Dr. Werner Huber von der Technischen Hochschule Ingolstadt auch die beiden NI Vice Presidenten Dave Wilson und Omid Sojoodi. Prof. Huber gab Einblicke in die technischen Herausforderungen des autonomen Fahrens und machte anschaulich mit der Klassifizierung einzelner Sicherheitslevel bekannt.

VIP 2017

Bild 3: Prof. Dr. Huber gab Einblicke in die technischen Herausforderungen des autonomen Fahrens und machte anschaulich mit der Klassifizierung der Sicherheitslevel bekannt. National Instruments

Omid Sojoodi, VP R&D für Applikation und Embedded Software, konzentrierte sich auf neue Software-Komponenten in Labview 2017, mit denen Anwender zügig konfigurieren, verteilte Systeme für das industrielle Internet der Dinge verwalten, riesige Datenmenge verarbeiten oder Webtechnologien nutzen können. Highlight war die Vorstellung der neuen Labview-Generation NXG, die durch neue, programmierfreie Arbeitsabläufe für Produktivitätssteigerungen bei der Erfassung und iterativer Analyse von Messdaten am Prüfplatz sorgt.

VIP 2017

Bild 4: Omid Sojoodi, Vice President R&D für Applikation und Embedded Software bei National Instruments, berichtete unter anderem über die Fortschritte bei Labview NXG. Hans Jaschinski

Labview NXG wurde in der Version 1.0 erstmals auf der diesjährigen NI Week in Austin vorgestellt und wird aktuell zusammen mit Labview 2017 ausgeliefert. Die Anpassung der NI-Geräte-Treiber an NXG ist laut Omid Sojoodi sehr weit fortgeschritten und die Arbeit an der noch im Beta-Stadium befindlichen Folgeversion NXG 2.0 wird kontinuierlich fortgesetzt; auf ein Release-Datum im nächsten Jahr wollte sich aber niemand festlegen.

Nach den Keynotes konnten sich die Teilnehmer in etwa 70 verschiedenen Vorträgen informieren und an diversen Workshops teilnehmen. Das in den vergangenen Jahren am dritten Tag durchgeführte Academic Forum fand dieses Jahr im Rahmen des VIP-Kongresses statt. Abgerundet wurde der Kongress durch die Ausstellung der rund 40 Alliance Partner, Produktpartner und Systemintegratoren. Nachfolgend einige Meldungen aus diesem Bereich.

Berghof Automation

VIP 2017

Bild 5: Die Data Management Software Suite von National Instruments ermöglicht einen kompletten Workflow, um Messdaten in anschauliche Ergebnisse umzuwandeln. National Instruments

Das PIA-System (Powertrain Injector Application) von Berghof Testing basiert auf der NI-compactRIO-Technologie und ist für die Ansteuerungs-, Leistungs- und Messtechnik für Einspritzventile und Hochdruck-Einspritzpumpen geeignet. Das modulare System übernimmt die Funktion einer Steuereinheit, die das Motorsteuergerät simuliert und reale Umgebungsbedingungen erzeugt. Durch flexibel einstellbare Steuerparameter kann das System unterschiedliche Betriebszustände simulieren und enthält alle notwendigen Bestandteile zur Stromversorgung. Eine optionale Messtechnik sorgt schlussendlich für eine optimale Funktionsanalyse. Das PIA-System ist in alle gängigen Prüfsysteme integrierbar und somit plattform- und herstellerunabhängig.

 

Lesen Sie auf der nächsten Seite mehr über Anwenderbeispiele von Measx, Noffz und Schmid Elektronik.

Seite 1 von 212