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Seica

Er ist ausgestattet mit 8 Drive-Sense-Flying-Probes, zwei Versorgungs-Probes, zwei für den vektorlosen Test, zwei Kameras und zwei Temperatur-Sensoren, mit denen In-Circuit-Test, Funktionstest, Boundary-Scan, optischer und thermischer Test an allen Arten von gedruckten Schaltungen durchgeführt werden können. Dank der Paralleltesteigenschaft, mit der zwei Baugruppen gleichzeitig getestet werden können, wird die Produktivität verdoppelt. Damit bieten sich Testzeiten, die mit denen von Standard-Nadelbettadapter-Tester vergleichbar sind, allerdings mit einer hohen Fehlerabdeckung und besserem mechanischen Zugriff auf die Leiterplatte selbst. Das System bietet sich für ein Reverse-Engineering an. Während des Testens besteht die Möglichkeit, die CAD-Projekt-Daten und die Verdrahtungsliste zu rekonstruieren – ideal, wenn diese nicht zur Testprogrammgeneration verfügbar sind. Als Pilot V8 Automatic gibt es eine Systemvariante, die die Ausbeute beim High-Volume-Test maximieren hilft. Ein spezieller Conveyer kombiniert mit einem externen Lader-Entlader sorgt für den automatischen Transport der Leiterplatten. Dies erlaubt es, das Testsystem ohne einen dedizierten Bediener zu betreiben.