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Bild 1: Oszilloskop-Tastkopfspitze mit Masse-Leitung.
Bild 2: Aufbau für das Messen der Welligkeit am Ausgang eines Netzteils.
Bild 3: Für die Messung wurde ein 0,1 µF Kondensator eingesetzt, um Impulsspitzen zu beseitigen.

Dies lässt sich einfach nachweisen, indem man die Anschlussleitungen des Oszilloskops nach dem Verbinden mit dem Netzteil bewegt. Man sieht dann deutlich, wie die Störungen durch das Bewegen der Masseleitung abwechselnd stärker und schwächer werden (Bild 1).

Für das Messen der Welligkeit verzichtet man besser ganz auf die Masseleitung. An der Spitze des Tastkopfs ist der Abstand zwischen Plus und Masse sehr klein. Man verbindet die Tastkopfspitze stattdessen mit einer Steckbuchse, wie man sie überall erwerben kann. Der mittlere Anschluss der Buchse wird nun mit dem Ausgang des Netzteils verlötet, während man den anderen Anschluss über einen oberflächenmontierbaren Mehrschicht-Keramikkondensator von 0,1 µF mit Masse verbindet. Das Oszilloskop wird nun auf eine obere Grenzfrequenz von 5 MHz eingestellt. Zum Messen der Welligkeit führt man die Tastkopfspitze in die Buchse ein. Das ganze sollte aussehen wie in Bild 2. Auf diese Weise erhält man eine akzeptable Welligkeitsmessung ohne störende Impulsspitzen.

Ein Mehrschicht-Keramikkondensator mit einer Kapazität von 0,1 µF wird auf der Rückseite der Leiterplatte mit den beiden Leitungen verbunden. Gemeinsam mit der Steckbuchse filtert dieser Kondensator all jene hochfrequenten Anteile aus, die beim Messen der Welligkeit vorkommen können. Elektrolyt , Papier und Kunststofffolienkondensatoren sind für die Entkopplung bei hohen Frequenzen nicht besonders gut geeignet. Der Grund hierfür ist, dass diese Kondensatoren im Prinzip aus zwei Metallfolien mit einer dazwischenliegenden dielektrischen Schicht bestehen, die zusammen zu einer Rolle aufgewickelt werden. Eine solche Struktur besitzt eine beträchtliche Eigeninduktivität und wirkt bei Frequenzen über einigen Megahertz weniger wie ein Kondensator, sondern mehr wie eine Induktivität.

Im vorliegenden Fall wurde deshalb ein Mehrschicht-Keramikkondensator mit einer Kapazität von 0,1 µF benutzt, um jegliche hochfrequenten Impulsspitzen zu eliminieren (Bild 3). Man kann auf diese Weise die tatsächliche Welligkeit mit der Schaltfrequenz messen, ohne dass die Messung durch hochfrequente Impulsspitzen verfälscht wird.