Ein offener, plattformbasierter Ansatz kombiniert modulare Messtechnik mit Systemdesignsoftware für RF- und Mixed-Signal-Produktionstest.

Ein offener, plattformbasierter Ansatz kombiniert modulare Messtechnik mit Systemdesignsoftware für RF- und Mixed-Signal-Produktionstest.National Instruments

National Instruments präsentiert die Produktreihe NI Semiconductor Test Systems (STS). Es handelt sich dabei um PXI-basierte automatisierte Testsysteme, welche die Prüfkosten für RF- und Mixed-Signal-Geräte senken, indem sie die Integration von PXI-Modulen in Prüfumgebungen der Halbleiterproduktion ermöglichen. Anwender, die ihre konventionellen automatisierten Halbleiterprüfsysteme bereits durch STS ersetzt haben, profitieren von geringeren Produktionskosten sowie einem höheren Durchsatz und können für Charakterisierung und Produktion dieselben Hard- und Softwarewerkzeuge einsetzen. So wird weniger Zeit für die Korrelation von Daten benötigt.

Die offene, modulare Architektur eines STS gibt Anwendern Zugang zu den PXI-Messgeräten, den die Anwender von klassischen automatisierter Testsysteme aufgrund ihrer geschlossenen Architektur nicht erhalten. Insbesondere bei RF- und Mixed-Signal-Tests macht dies jedoch einen großen Unterschied, da die Anforderungen der aktuellen Halbleitertechnologien häufig die Testabdeckung klassischer automatisierter Testsysteme übersteigen.

Durch die Testmanagementsoftware Test-Stand und die Systemdesignsoftware Labview ist die STS-Familie mit umfangreichen Funktionen für Halbleiterproduktionsumgebungen ausgestattet. Dazu zählen eine benutzerdefinierbare Bedienoberfläche, die Integration von Handler/Prober, geräteorientierte Programmierung mit Pin-Kanal-Zuordnung, Berichterstellung im standardisierten Testdatenformat und integrierter standortübergreifender Support. Diese Funktionen ermöglichen es, Testprogramme schnell zu entwickeln, auf Fehler zu untersuchen und einzusetzen. Zusätzlich lassen sich STS in eine Prüfzelle in der Halbleiterproduktion integrieren.

Die Produktreihe STS umfasst drei Modelle – T1, T2 und T4 –, die sich jeweils mit einem, zwei oder vier PXI-Chassis ausrüsten lassen. Aufgrund der unterschiedlichen Größen sowie der einheitlichen Software, Messtechnik und des Verbindungsmechanismus in allen STS-Modellen gibt es für zahlreiche Anforderungen an Pinanzahl und Flächendichte das geeignete Modell. Dank der Skalierbarkeit kommen die STS-Modelle von der Charakterisierung bis hin zur Produktion zum Einsatz und sparen dabei nicht nur Kosten, sondern senken auch die Markteinführungszeiten.