23.02.2009 AOI-Systeme für bestückte Leiterplatten – Teil 1 Wer sucht, der findet Die Leistungsfähigkeit von AOI-Systemen bedeutet mehr als nur die Summe ihrer Einzelkomponenten. Welche Kritereien sind wichtig? Fachartikel Anzeige (Jens Kokott, war von 1991 bis 1992 wissenschaftlicher Assistent an der Universität Jena. Seit 1992 i) Artikel "Wer sucht, der findet" als PDF kostenlos downloaden WeblinksLink zu Göpel Elektronik drucken Newsletter Das Neueste von all-electronics direkt in Ihren Posteingang! Die neueste Galerie:„La vita eletrizzante – Die Formel E zu Gast in Rom” Themen:Optische Testsysteme Verwandte Artikel SensorikHöhenmesssensor analyisert Objekte lageunabhängigLED-Baugruppen exakt prüfenInlineautomatisiertes LED-TestsystemKnow-how in SPI und AOI für Konzeptstudie3D-Prüftechnologie: Mit scharfem Blick voranSicherer FlugbegleiterATE-Flying-Probe-Plattform Leser interessierten sich auch für Prozesstechnik der digitalen StromversorgungenKonzepte für digitale Regelungen in SchaltwandlernMikrocontroller für den Body-BereichHilfe bei der MCU-AuswahlDas große ZählenStückzählung und Zeitprozesse über Multifunktionszähler flexibel steuernVitalparameter messenGesundheitsüberwachung per Wearable-Elektronik