Die Multisensor-Messgeräte von FRT liefern Informationen über die Beschaffenheit eines Solarwafers: Auf  Vorder- und Rückseite sowie am Rand. werden Dicke, Topographie, Welligkeit und Randbearbeitung  zerstörungsfrei und hochpräzise gemessen. Die Messergebnisse ermöglichen Rückschlüsse auf die Oberflächenqualität, Brüchigkeit und den Wirkungsgrad eines Solarwafers – drei Parameter, die nicht nur für immer dünner werdende Wafer wie Dünnschichtzellen mit amorphem Silizium von Bedeutung sind. Die optische Oberflächenmesstechnik von FRT wird zudem für die Qualitätskontrolle der elektrischen Leiterbahnen und Finger eingesetzt. Die automatisierbaren Messsysteme liefern die relevanten Daten kurzerhand und gewährleisten so eine produktionsnahe Qualitätssicherung. Sogar die Vermessung optisch aktiver Schichten, z.B. Antireflexionsschichten, ist mit den FRT-Lösungen realisierbar. 

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