Eine flexibel an einem Kabel befestigte Sonde erweitert das Anwendungsspektrum des praxiserprobten Handmessgerätes Dualscope MPOR FP. So erreicht das Messgerät auch Messstellen an kleinen zurückgesetzten Flächen, in Kavitäten oder an konkaven Oberflächen. Es misst Schichtdicken von Zink, Chrom und Kupfer sowie von Farben, Lacken oder von anodisierten Schichten auf Aluminium, Kupfer und Edelstahl. Zwei Displays erlauben es, die Messwerte bequem in jeder Geräteposition abzulesen. Bis zu 1000 Messwerte können gespeichert, ausgewertet und über Funkschnittstelle an einen PC in bis zu 20 m Entfernung übertragen werden. Ein einfaches Menü und wenige Tasten stehen für die Auswahl der Geräteparameter, Kalibrierung und Auswertung bereit. (mr)
(Peter Neumeier)
