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Dazu gehören Einzelhalbleiter mit Standard- und Power-Spezifikationen (IGBTs, Power-MOSFETS, Dioden, Thyristoren usw.), Leistungsmodule, Multichip-Bausteine oder Wafer. Dabei überstreicht die Testerserie einen weiten Bereich von statischen und dynamischen Messungen von Halbleiter- und Leistungsparametern, darunter Ströme bis maximal 12.000 A und Hochspannungen bis 9 kV, bei dynamischen Tests.

An die Testplattformen können für einen optimalen Prüfablauf alle üblichen manuellen und automatischen IC-Handler sowie Waferprober angeschlossen werden. Die Bauteile lassen sich nach der Prüfung entsprechend der Ergebnisse zuverlässig und rasch automatisch in unterschiedliche Kategorien und Klassen (Binning) sortieren. Die hochpräzise Kelvin-Kontaktierung ist Standard, somit ist die Gefahr von Mess- und Kontaktfehlern absolut minimiert.

Die DUT-Schnittstelle (Device under Test) ist mit Sicherheitseinrichtungen für die Bediener sowie die angeschlossenen Handler bzw. Prober zuverlässig gegen unerwünschte Berührung und Kontakte von Hochspannung bzw. Hochstrom abgesichert.

Ergänzt wird die MT-Systemserie zudem von drei speziellen Crea-Adaptiervorrichtungen. ADP05 ist ein Fixture für Standard-Powermodule und ADP06 eignet sich für Hochleistungs-Powermodule, beide mit Hot-Plate, Adapter PBU00 unterstützt das manuelle Wafer-Probing. Sämtliche in die Hardware integrierte Geräte werden über eine speziell entwickelte Flex-Matrix an die DUT geführt. Dafür stehen jeweils 32 Powerkanäle, 32 Gate/Emitter-Anschlüsse sowie 32 Messwerterfassungsleitungen zur Verfügung.

Das Modell MT100 gibt es in zwei unterschiedlichen Versionen. Die Plattform MT100S wurde als leistungsfähige Standardlösung für die statische Prüfung von Leistungsmodulen konzipiert. MT100-HP hingegen ist speziell für High-Power-Module geeignet.

Eine kompakte Benchtop-Plattform innerhalb dieser Testerserie ist die Ausführung MT050, die in der Standardversion für schnell vorgenommene statische Vor- und Zwischenprüfungen aller Art an Leistungshalbleitern geeignet ist. Die Daten entsprechen fallweise denen der Systemplattform MT100S. Zusammen mit der CREA-Testbox ADP 07 lassen sich mit der Testerplattform MT050 sicher und einfach manuelle Prüfungen an Leistungskomponenten vornehmen.

Das technisch ähnliche Parallelmodell MT050WT hingegen ist speziell auf rasche Wafertests ausgerichtet.

Testprogramme für diese Systemserie werden sehr komfortabel erzeugt und debugged mit der Software CRMT 6.0. Die Programmierung erfolgt einfach durch Eingabe der Bausteinart und der dazugehörigen Parameterdaten.