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Testgeräte + Prüfplätze

Mit schnellen Innovationszyklen Schritt halten

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Unterstützung der Produktlebenszyklen durch Boundary Scan

27.03.2002- FachartikelDie zunehmende Globalisierung des Wettbewerbs, gepaart mit immer kürzeren Innovationszyklen und rasant ansteigender Produktkomplexität führt zu immer größer werdendem Kosten- und Zeitdruck beim Produzenten. Für ein erfolgreiches Agieren am Markt ist deshalb eine kontinuierliche Neubewertung aller am Produktlebenszyklus beteiligten Prozessschritte unabdingbar. Der vorliegende Artikel diskutiert den Beitrag, der durch das Boundary Scan Verfahren in dieser Hinsicht geleistet werden kann und demonstriert den erreichten Stand der Technik. mehr...

Testgeräte + Prüfplätze-Universales Kalibriersystem "Unikal"

Sichere Messwerte

19.03.2002- FachartikelFür die Entwicklung eines Kraftfahrzeuges ist neben der Zuverlässigkeit in die Technik auch das Vertrauen in die Messwerte unerlässlich. Beides kann nur durch regelmäßiges Kalibrieren der Messtechnik durchgeführt werden. Für diesen Zweck ist ein entsprechend ausgestattetes und anerkanntes Kalibrierlaboratorium notwendig. mehr...

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Testgeräte + Prüfplätze-Tester für LCD-Treiber

Testsystem T6371

12.03.2002- ProduktberichtFunktionsprüfungen bei maximal 1280 Pins, mit 125 MHz und bis zu 256 Kanälen mehr...

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Solide und flexible Röntgeninspektion

22.02.2002- FachartikelDieses leicht zugängliche AXI-System ist mit einer 160 kV-Vakuum-Röntgenröhre und mit einem Sensor ausgerüstet, der eine Brennfleckgröße von 2 µm bewirkt. Der Prüfling kann bis max. 0,25 mm an den Brennpunkt herangeführt werden, wodurch eine maximale Vergrößerung erreicht wird. mehr...

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Post-Reflow-AOI

22.02.2002- FachartikelIn den letzten Jahren hat der Einsatz der AOI in SMT-Fertigungslinien weltweit stark zugenommen, da sich die AOI als zuverlässiges und kostengünstiges Werkzeug zur Inspektion von SMT-Prozessfehlern bewährt hat. Im Zuge der ständig wachsenden Qualitätsanforderungen hat sich aber auch immer klarer herauskristallisiert, dass die AOI zukünftig weit mehr sein muss als ein Torwächter, mehr als nur ein Fehlerfilter – und sei er noch so zuverlässig und kostenwirksam –, mehr als ein Werkzeug zur Qualitätsbeurteilung. Kurz gesagt: die AOI muss sich darüber hinaus auch zu einem Messinstrument entwickeln. mehr...

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Mit AOI und Flying Probe zur optimalen Teststrategie

22.02.2002- FachartikelAOI-Systeme sind seit einigen Jahren fester Bestandteil der Baugruppen-Fertigung. Etliche Hersteller bieten ihre Systeme auf dem Markt an. Doch eigentlich können die Vorzüge eines AOI erst in Verbindung mit der richtigen Teststrategie voll ausgeschöpft werden. Dieser Gedanke führte zu einer völlig neuen Art von Test, bei dem AOI in Verbindung mit einem Flying Probe-Tester zum Einsatz kommt und durch selektive Tests für enorme Testzeiteinsparungen sorgt. mehr...

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Kombiniertes AOI-AXI-System zur wirtschaftlichen Fehlererkennung

22.02.2002- FachartikelAutomatisierte Prüfsysteme, die AOI mit Automated Xray Inspection (AXI) kombinieren, können signifikante und sonst schwer detektierbare Fehler bei Leiterplattenbestückungen erkennen und damit Durchsatz und Qualität bei gleichzeitiger Senkung der Kosten erheblich steigern. mehr...

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AOI nicht nur für die Großserie

22.02.2002- FachartikelDie günstige Preisgestaltung dieser AOI-Systeme erlaubt es in vielen Anwendungen, anstatt eines relativ teuren Kamera-Systems mehrere Systeme (nach jedem wichtigen Produktionsschritt) einzusetzen. Die Systeme, die mit einer Farb-CCD-Zeilenkamera ausgestattet sind und damit sehr schnelle Prüfgeschwindigkeiten ermöglichen, stehen als Einzelplatz-Version mit Handaufnahme und als Inline Versionen zur Verfügung. mehr...

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Preisgünstige Lösung zur Funktionsprüfung von Relais

18.12.2001- FachartikelUm mehrere Relais auf einem Adapter zu testen und dabei diese einzeln ansteuern zu können, war pro Relais eine größere Anzahl Kontaktfahnen mit unterschiedlichen Längen zu kontaktieren. mehr...

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Multifunktionale Prüfzelle

18.12.2001- FachartikelEine automatisierte Testzelle, ganz auf Standardkomponenten basierend – dieses Ziel haben sich drei scheinbar gänzlich unterschiedliche Partnerfirmen auf die Fahne geschrieben, nicht nur um zu zeigen, dass man sich auf seine Kernkompetenzen besinnend gemeinsame Produkte entwickeln kann, wie man es allein auf keinen Fall so schnell und so effektiv tut. Das Ergebnis ist genau auf die aktuellen Bedürfnisse einer Vielzahl von Anwendern zurecht geschnitten. mehr...

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2D, 3D plus AOI

17.12.2001- FachartikelCyber Technologies bzw. Cyber Optics steht für die Entwicklung und Herstellung von intelligenten Messsystemen für hochgenaue und berührungslose dimensionale Messungen. mehr...

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Höherer Qualitätsstandard durch Time-Domain-Reflectometry

06.11.2001- FachartikelDer Tenor bei der Entwicklung neuer Halbleiterbausteine, ob es sich um einen Mikrokontroller, einen Speicherchip, Bausteine für die Kommunikationselektronik oder auch Mixed-Signal-Bausteine handelt, ist immer von höheren Takt- und Datenraten geprägt. In einem fertigen Produkt, z.B. PC, müssen mehrere Bausteine und Bausteingruppen zusammenarbeiten. Es bedarf also der Integration von Siliziumchips mittels Gehäuse, Leiterkarten, Steckverbinder und anderen Verbindungsleitungen. Dies gelingt aber in vielen Fällen nicht sofort und es sind weitere Versuchsreihen notwendig, die den Entwicklungsprozess verlangsamen. mehr...

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Automatisch Testen

06.11.2001- FachartikelSpea, ein typisch europäischer Testsystemhersteller - hat sich von Anbeginn trotz aller Höhen und Tiefen, die das ATE-Geschäft bis heute mit sich gebracht hat, tapfer geschlagen und nimmt mittlerweile eine führende Marktstellung ein. Die deutsche Spea GmbH wird im nächsten Jahr 20 Jahre alt. Seit 1982 agiert sie von Buseck, nahe Gießen aus in Sachen Testsysteme für Elektronik und Automation. mehr...

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Steigerung der Qualität – Reduzierung der Nachfolgekosten

06.11.2001- FachartikelBei der Herstellung von elektronischen Flachbaugruppen ist eine Fehlerrate zwischen 2 und 30% zu erwarten. Diese Zahl variiert je nach Kompliziertheit, Komplexität und natürlich Erfahrung der Entwickler. Deshalb müssen Baugruppen zu 100% getestet werden. mehr...

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Vision aus dem Baukasten

06.11.2001- FachartikelVor zehn Jahren hat Qualimatest das erste PC-basierte Vision-System unter LabVIEW von National Instruments entwickelt. Seither hat sich diese Software, die im Laborbereich schon weit verbreitet war, immer mehr auch in der Industrie als Standard durchgesetzt. mehr...

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3D-Inspektion in der Aufbau- und Verbindungstechnik

06.11.2001- FachartikelNanoFocus hat die Leistungen des 3D-Laserprofilometers µScan AF2000 Hybrid speziell auf die Belange der Hybrid- und Dickschichtproduktion und der Aufbau- und Verbindungstechnik zugeschnitten. µScan ist mit neuartiger Autofocus-Sensor-Technologie ausgestattet. Mit der bemerkenswerten vertikalen Auflösung von 15 nm bei einem Arbeitsbereich von 1,5 mm ist der Sensor der Allrounder für alle Messanwendungen in der Mikroelektronikfertigung. mehr...

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Röntgeninspektion – lohnt sich das?

05.11.2001- FachartikelWas kann man mit einem einfachen Röntgeninspektionssystem anfangen? Wann lohnt sich die Investition in ein manuelles System? Wie kann man mit einfach zu bedienenden Geräten effektive Qualitätssicherung betreiben? Einen schnellen und flexiblen Röntgeninspektionsservice kann ein Outsourcing-Unternehmen aus dem Raum Stuttgart jetzt schnell und flexibel und zu fairen preisen anbieten. mehr...

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Über die Notwendigkeit der Lotpasteninspektion

05.11.2001- FachartikelDie Fehlerwahrscheinlichkeit bei der Fertigung von elektronischen Flachbaugruppen steigt, je kleiner das Raster der zu bestückenden Bauelemente ist. Für die Kontrolle dieser Boards auf Bestückungsfehler, Zinnbrücken u.v.a. gibt es sehr leistungsfähige AOI-Systeme, mit denen eine nahezu hundertprozentige Inspektion gewährleistet wird. Bei festgestellten Fehlern erfolgt eine manuelle Reparatur. Der Aufwand für diesen Arbeitsschritt ist groß und kann jede Kalkulation gefährden. Der große Kosten- und Zeitdruck, unter denen die Elektronikfertiger stehen, zwingt geradezu zur Optimierung der Prüfstrategie. mehr...

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Mehrere Prüfschritte in einem Gerät

05.11.2001- FachartikelDer Wechsel von einer Sonderprüfanlage zur anderen strapaziert einerseits den Geldbeutel und zum anderen macht irgendwann einmal auch das Controlling nicht mehr mit. Also her mit einem System, das variable auf mehrere Anforderungen im Handumdrehen umrüstbar ist und zudem zu ansehlichen Rationalisierungseffekten in der Fertigung führt. mehr...

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Multifunktionaler adapterloser Tester

05.11.2001- FachartikelAdaptionskosten und die Notwendigkeit, Baugruppen noch vor Entwicklungsfreigabe zu prüfen, machen einen Einsatz von herkömmlichen Testsystemen auf der Basis von Nadelbettadaptern fast unmöglich. Eine Alternative stellt das MTS500 Condor, ein adapterloses Testsystem von Digitaltest, dar. mehr...

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