Advantest stellt den dynamischen Test-Handler M6242 vor, der auf Grund des überragenden Durchsatzes von 42 200 Bausteinen pro Stunde besonders für den Produktionstest großer Stückzahlen von Speicherbauteilen wie DRAMs geeignet ist. Der M6242 erlaubt einen Test von Speicherbauteilen in BGA- und CSP-Gehäusen. Durch eine Optimierung der komplexen Arm-Mechanismen, welche die Sortierung der guten und fehlerhaften Bauteile nach dem Testen übernehmen, konnte der interne Bauteiltransport weiter verbessert werden. In Verbindung mit dem für den Produktionstest großer DRAM-Stückzahlen entwickelten Testsystem T5588 von Advantest ermöglicht der M6242 eine deutliche Verbesserung der Produktivität und eine Reduzierung der Testkosten.

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