Elektronik-Entwicklung

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Praxisnahe Design-Unterstützung für Elektronik-Entwickler: von den Bauelementen (Halbleiter, passiv, Sensoren) über Stromversorgungen, Opto, Displays, E-Mechanik etc. bis zu Messtechnik, Software und Embedded – stets mit Blick auf Safety & Security sowie auf Lösungen für (über)morgen!

Fokusthema Quantencomputer

Als im Juni 2021 der erste Quantencomputer in Deutschland von IBM eingeweiht wurde, war das Interesse groß. Aber was verbirgt sich hinter der Technologie? Was kann sie eines Tages leisten, woran wird geforscht und wo lauern Gefahren? Das erfahren Sie hier.

Elektronik-Entwicklung

21. Aug. 2019 | 17:26 Uhr
Neun Millionen System-Logikzellen erlauben die Emulation von Zukunftstechnologien wie etwa Künstliche Intelligenz.
Mit neun Millionen System-Logikzellen

Xilinx stellt größten FPGA der Welt vor

Der US-amerikanische Chiphersteller Xilinx erweitert seine Ultrascale-Serie um den VU19P, der komplexe Zukunftstechnologien ermöglicht.Weiterlesen...

21. Aug. 2019 | 14:30 Uhr
Bild 1: Funktionsblockdiagramm für die SIP-Produkte der Familie OSD335x von Octavo.
Mehr Funktionalität dank System-in-Package-Technologie

Auch simple Systeme benötigen eine raffinierte Steuerung

Scheinbar einfache Systeme sind auf raffinierte Steuerungen angewiesen. Entwickler müssen neben der Wahl der richtigen Software auch noch diverse Hardwarekomponenten berücksichtigen. Die System-in-Package-Technologie kann hier Abhilfe schaffen.Weiterlesen...

20. Aug. 2019 | 16:30 Uhr
Bild 2: Querschnitt eines SiC-MOSFETs.
Das Wide-Bandgap-Ökosystem

Wide-Bandgap-Halbleiter erfordern disruptive Simulationsumgebungen

Wide-Bandgap-Halbleiter sind herkömmlichen Siliziumhalbleitern in vielerlei Hinsicht überlegen, weshalb die Nachfrage steigt. Dabei ist die Modellierung solcher Halbleiter anspruchsvoll und nicht jede Entwicklungsumgebung liefert zuverlässige Ergebnisse.Weiterlesen...

20. Aug. 2019 | 09:27 Uhr
Memory chip
Simulation analoger Fertigungstests

Fehlerorientierte Tests finden Anomalien in der Fertigung

Analoge Fertigungstests verifizieren die Funktionalität und Leistungsparameter von Chips. Für Chipdesigner ist das aber eine Herausforderung, da die Parameter nicht der Stuck-at-Logik folgen. Eine Alternative ist die Fehler-orientierte Testsimulation, die sich auf die Ursache der Ausfälle konzentriert.Weiterlesen...

20. Aug. 2019 | 09:20 Uhr
Mit der neuen Version von XJTag können Entwickler eine Boundary-Scan-Funktion in den eigenen Testcode integrieren.
Softwareupdate führt neue API ein

Möglichkeiten des Boundary-Scan-Tests erweitern

XJTag aktualisiert seine gleichnamige Software und will damit Ingenieuren helfen, bessere Testprogramme zu entwickeln und effizienter arbeiten zu können.Weiterlesen...

20. Aug. 2019 | 09:18 Uhr
Emtron
Für kapazitive und induktive Lasten

Einschaltstrombegrenzer mit thermischer Sicherung

Zur Reduzierung von temporärem Spitzenstrom hat Mean Well die neue ICL-16-Serie von Einschaltstrombegrenzern entwickelt, die bei Emtron erhältlich ist.Weiterlesen...

19. Aug. 2019 | 16:44 Uhr
Trotz starker Verkaufszahlen schwächelt der Gesamtumsatz. Grund ist ein sinkender Durchschnittsverkaufspreis.
Talfahrt beendet?

MCU-Markt soll ab 2020 wieder anziehen

Nach Ansicht von IC Insights soll der von Handelskonflikten und einem schwächelnden Automobil-Markt gebeutelte MCU-Markt bereits ab 2020 wieder ansteigen. Eine Stabilisierung ist schon ab 2019 zu erwarten.Weiterlesen...

19. Aug. 2019 | 15:30 Uhr
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Verbindungstechnik

Flache Kabelverschraubung von Icotek

Icotek erweitert die Produktfamilie der Kabelverschraubung QVT-Click um die metrischen Größen 16 und 20. Beide Größen lassen sich stecken und schrauben.Weiterlesen...

19. Aug. 2019 | 12:00 Uhr
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Industrial Monitoring an Board

Umfassende Flying-Probe-Testplattform von Seica

Auf der  Semicon West vom 9. bis 11. Juli im Moscone Center in San Francisco, zeigte Seica, Anbieter von Flying-Probe-Technologie, seine  allerneueste Testgerätelinie, die die wichtigsten Fortschritte und Funktionen, die im Halbleitermarkt erforderlich sind, präsentierte und die Marc Schmuck, CSO von Seica Deutschland kurz erläutert.Weiterlesen...

19. Aug. 2019 | 11:00 Uhr
Bild 1: Eine unterschiedliche Strahlungsintensität bei der UV-Härtung führt zu optischen und chemischen Problemen, die nicht repariert werden können. Wammes
Genau spezifizierte Rahmenbedingungen

Warum Belichtungsfehler beim Optical Bonding künftige Geräteausfälle verursachen

Belichtungsfehler beim Optical Bonding können Geräteausfälle hervorrufen. So entstehen unter Umständen bei selbstgebauten UV-Lichtquellen bereits bei der Aushärtung von Klebern vermeidbare Fehler. Die größte Fehlerquelle liegt hier in der Intensität. Diese kann zu stark, zu schwach oder nicht gleichmäßig sein.Weiterlesen...