Die All-in-One SMU-Messlösung SMU4000 kann bei gleichzeitiger Strom- und Spannungsmessung zur I-V-Charakterisierung positive und negative Spannungen bereitstellen.

Die All-in-One SMU-Messlösung SMU4000 kann bei gleichzeitiger Strom- und Spannungsmessung zur I-V-Charakterisierung positive und negative Spannungen bereitstellen. (Bild: Farnell)

In der Lösung zur Vereinfachung von Testanwendungen ist eine Hochleistungs-4-Quadranten-Spannungs-/Stromquelle mit Messgeräten kombiniert, die 0,1 µV und 100 fA mit einer 6,5-stelligen Auflösung messen. Weiter verfügt die neue Baureihe über einen internen Speicher für bis zu 100.000 Messungen bei bis zu 100.000 Schritten in einem 2-HE-Gehäuse mit halber Rack-Breite. Die Geräte können bei gleichzeitiger Strom- und Spannungsmessung zur I-V-Charakterisierung positive und negative Spannungen bereitstellen und Leistung sowohl aufnehmen als auch liefern. Eine Touchscreen-Steuerung ist mit einer intuitiven grafischen Benutzeroberfläche gekoppelt. Zwei Modelle mit maximal 21 V bei 3 A oder 210 V bei 3 A sind ab sofort erhältlich.

Die Powerflex-Technologie soll Flexibilität für eine Vielzahl von Messanwendungen mit hohen und niedrigen Spannungsanforderungen gewährleisten. Mithilfe der SMU-Link-Funktion lassen sich zwei SMUs über ein Handshake-Auslösesystem zur gleichzeitigen Ausführung verbinden, wodurch eine voll funktionsfähige 2-Kanal-SMU geschaffen wird. Dies kann beim Testen von dreifach bedrahteten Bauelementen wie Kleinsignal-BJTs und -FETs nützlich sein.

Acht voreingestellte Optionen ermöglichen die sofortige Verwendung der SMU in ihrer einfachsten Form. Dazu gehören Einstellungen für Stromversorgung, Stromquelle, Last, Voltmeter, Amperemeter, Ohmmeter, Isolationswiderstandsmesser und Leckstrommesser. Die Setup-Funktionen bildet eine Basis, von der aus Einstellungen über die manuelle Setup-Modus-Konfiguration bearbeitet werden können.

Neben DC- sowie gepulsten Quellen- und Messfunktionen verfügen die Geräte über eine integrierte Sweep-Einstellung, welche Standard-Sweep-Parameter unterstützt. Dazu gehören ein konstanter und gepulster Sweep-Betrieb, Doppel-Sweep-Funktionen sowie lineare und logarithmische Modi, die vom Bedienfeld aus voll funktionsfähig sind. Beliebige Listen-Sweeps von bis zu 100.000 Punkten können direkt über ein Flash-Laufwerk oder die Test Bridge-SMU-Software auf das Gerät hochgeladen werden.

Die Test-Bridge-SMU-Software ermöglicht neben zusätzlichen erweiterten Funktionen die vollständige Messsteuerung mehrerer SMUs. Eine grafische Schnittstelle erlaubt die Erstellung und direkte Anwendung von Setups, Listen und Sequenzen auf die SMUs. Durch den schnellen Daten-Download können die Ergebnisse gespeichert und als CSV-Datei zur weiteren Analyse exportiert werden. Es ist auch die Anzeige in einem tabellarischen oder grafischen Format innerhalb der Test Bridge-SMU-Software möglich.

Die neuen Geräte eignen sich unter anderem für die industrielle Produktentwicklung und für Bildungsumgebungen, Lade-/Entladeanwendungen für Batterien, Prozesse zur I-V-Charakterisierung und Halbleitertests.

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