Die neuen Chipsets von Rohm und Lapis Semiconductor für Automotive-Displays verfügen über diverse Diagnosefunktionen, um eine hohe Zuverlässigkeit der Anzeigekomponenten zu ermöglichen.  Rohm

Die neuen Chipsets von Rohm und Lapis Semiconductor für Automotive-Displays verfügen über diverse Diagnosefunktionen, um eine hohe Zuverlässigkeit der Anzeigekomponenten zu ermöglichen. (Bild: Rohm)

Die neuen Chipsets von Rohm zur Ansteuerung von Automotive-Displays bestehen neben dem Power-Management-IC für die Stromversorgung aus folgenden Elementen: Gamma-Korrektur-IC, Timing-Controller (T-CON), Source- und Gate-Treiber zur Ansteuerung von HD/FHD-Displays. Jedes IC ist so ausgelegt, dass es nach Bedarf Diagnoseinformationen austauschen kann, um die im Automotive-Bereich geforderte Zuverlässigkeit zu erreichen und die Funktionssicherheit von Anzeigekomponenten zu gewährleisten.

Anwendungen wie elektronische Spiegel müssen stets zuverlässig funktionieren, damit es nicht durch Störungen zu schweren Unfällen kommt. Wenn beispielsweise der Fahrer nicht realisiert, dass der Bildschirminhalt der Seitenspiegel „eingefroren“ ist, kann das zu ernsthaften Verletzungen führen, wenn sich plötzlich Personen oder Objekte im Fahrweg befinden. Um dies zu verhindern, liefert Rohm Diagnosefunktionen, mit denen erkannt wird, ob der Bildschirm eingefroren ist. Das Powermanagement-IC enthält ein Doppelregister zum Erfassen von Anomalien und eine Autorefresh-Funktion, um die Wiederherstellung während des fehlerhaften Betriebs zu ermöglichen.

Die Fehlererkennungsfunktion des Timing-Controllers ermöglicht die Verifizierung des Betriebszustands. Die Einstellungen im Powermanagement-IC lassen sich durch direktes Überschreiben des internen Registerwerts verändern.

(na)

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