Die Probe Pins setzen lediglich an einem winzigen Punkt auf das Material auf und üben nur so viel Druck aus, dass eine sichere Verbindung hergestellt, das Material jedoch nicht verformt wird. Dadurch entstehen keine Kratzer, Furchen oder Riefen und das DuT (Device under Test) verlässt den Testsockel nahezu spurenlos. Die Testsockel sind ab einem Pitch von 0,3 mm erhältlich.
Das Gehäuse ist aus PEEK und eloxiertem Aluminium gefertigt und die einzeln geprüften Probe Pins sind aus einer mit Nickel und Gold überzogenen Beryllium-Kupfer-Legierung hergestellt. Auch Pins mit anderen Oberflächen sowie weitere kundenspezifische Anpassungen sind möglich. Jeder FPC/FFC-Testsockel ermöglicht bis zu 50.000 Steckzyklen. Auf Wunsch wird die passende Leiterplatte gleich mitgeliefert. Yamaichi entwickelt und qualifiziert die Testsockel in München und fertigt in Frankfurt (Oder).
Productronica 2019: Halle A1, Stand 341
(mou)