Das Digitalmikroskop VHX-X1 sichert die Qualität von Halbleitern (Bild: Limtronik)
Die Fertigung moderner Elektronik mit winzigen Bauteilen, hoher Packungsdichte und empfindlichen Komponenten erfordert höchste Präzision und innovative Qualitätssicherungsverfahren. Limtronik setzt daher das Digitalmikroskop VHX-X1 von Keyence ein, um Halbleiter detailliert zu analysieren. Damit lassen sich Oberflächenstrukturen von Bauteilen wie Widerstände und Lötverbindungen detailliert analysieren. Die hochauflösende Betrachtung ermöglicht eine Bewertung der Verbindungsqualität, das frühzeitige Erkennen potenzieller Fehler sowie die Überprüfung der Bauteilhaftung.
In Branchen wie der Automobilindustrie, der Medizintechnik und der Industrieelektronik steigen die Anforderungen an die Qualität stetig. Strenge Richtlinien und Normen definieren klare Vorgaben, die eingehalten werden müssen. Um diesen gerecht zu werden, implementiert Limtronik kontinuierlich neue Analyse- und Inspektionsverfahren.
Ein zentraler Vorteil des Digitalmikroskops VHX-X1 ist die Möglichkeit, Bauteile mit hoher Vergrößerung vollfokussiert zu betrachten. Dies erlaubt eine detaillierte Untersuchung sowohl einzelner Lötstellen als auch ganzer Bauteile. So lässt sich prüfen, dass alle Verbindungen intakt sind und beispielsweise Kurzschlüsse vermieden werden.
Zusätzlich bietet das System eine flexible Betrachtung durch die Schwenkfunktion. „Die Kamera kann um bis zu 90 Grad geneigt und der XY-Objekttisch gedreht werden. Dadurch erhalten wir aus verschiedenen Blickwinkeln umfassende Einblicke in die gesamte Bauteiloberfläche. Selbst schwer zugängliche Stellen lassen sich auf diese Weise vergleichsweise einfach analysieren“, erklärt Gerd Ohl, Geschäftsführer von Limtronik.
Ein weiterer entscheidender Aspekt in der Qualitätssicherung ist die Dokumentation der Prüfergebnisse. Mit dem Digitalmikroskop kann Limtronik sämtliche Analysen umfassend archivieren. Die hohe Speicherkapazität sorgt dafür, dass alle Aufnahmen langfristig gesichert werden, wodurch eine lückenlose Nachverfolgbarkeit möglich ist.
