Test Contactor_Y-RED FA

Auf die sensorische Fehleranalyse ist diese Variante der Test Contactoren Y-RED spezialisiert. (Bild: Yamaichi)

Yamaichi hat ein neues Produkt der Test-Contactor-Baureihe Y-RED herausgebracht. Während die bereits erhältliche EV-Variante vor allem in der Evaluation und Validierung von Chips zum Einsatz kommt, ist die neue FA-Variante auf die sensorische Analyse von Fehlern (FA) spezialisiert. Durch eine Öffnung im Deckel ist die gesamte Komponente während des Testens sichtbar. Eine eingelegte, kratzfeste und rissbeständige Glasplatte sorgt dabei für gleichmäßige Druckverteilung während der Kontaktierung. Damit bieten sich etwa Chipuntersuchungen mit Solid Immersion Lens und Emission-Mikroskopie an.

Für das Testen von Komponenten mit Abmessungen zwischen 1,5 mm x 1,5 mm und 5 mm x 5 mm sind beide Varianten außerdem in einer kleineren Ausführung erhältlich. Das Rastermaß startet bereits bei 0,3 mm, der Anwendungstemperaturbereich ist von -40 °C bis +150 °C spezifiziert. Bei Abmessungen größer 5 mm x 5 mm bis maximal 12 mm x 12 mm kommt der große Formfaktor zum Einsatz. Die Test Contactoren sind für LGAs, QFNs und BGAs/(WL)CSPs konzipiert. Für Labormessungen mit besonders niedriger Induktivität ist außerdem ein Low-Inductance-Pin erhältlich, der sich in in alle Test Contactoren einbauen lässt.

Productronica 2021: Halle A1, Stand 266

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