Die Spektrumanalysatoren von Yokogawa verfügen über eine intuitive Touch-Bedienung. (Bild: Yokogawa)
Mit der Entwicklung sollen die steigenden Anforderungen in der Prüfung optischer Geräte und Komponenten im sichtbaren bis nahen infraroten Wellenlängenbereich für Anwendungen wie der Materialbearbeitung erfüllt werden. Die Geräte sind für präzise Messungen während der Entwicklung von lichtemittierenden Geräten und zur Charakterisierung von Lasern in der Halbleiterherstellung geeignet.
Der AQ6373E deckt den Wellenlängenbereich von 350 nm bis 1200 nm ab, während der AQ6374E einen breiten Wellenlängenbereich von 350 - 1750 nm bietet. Zudem eignet er sich nicht nur für die Bewertung von lichtemittierenden Bauteilen wie Lasern, sondern auch zur Charakterisierung von optischen Fasern.
Der integrierte APP-Modus bietet eine auf das Testobjekt zugeschnittene Benutzeroberfläche, die den Anwender von der Konfigurationseinstellung bis zur Ausgabe der Prüfergebnisse führt. Ein großes LCD-Touchpanel erleichtert dabei die intuitive Handhabung.
