Quelle: Fischer
Die Fischerscope-X-Ray XDL-B-Baureihe ist für die zerstörungsfreie Schichtdickenmessung und Materialanalyse bei galvanischen Beschichtungen auf Massenteilen, aber auch für die Analyse funktioneller Schichten in der Elektronik- und Halbleiterindustrie und die Badanalyse in der Galvanik geeignet. Durch Verwendung eines Proportionalzählrohres wird eine hohe Zählrate erreicht, was eine präzise Messung ermöglicht. Mit der Fundamental- Parameter-Methode werden Schichtsysteme, feste und flüssige Proben auch standardfrei analysiert. Bis zu 24 Elemente im Bereich von Chlor (17) bis Uran (92) können dabei simultan detektiert werden. Die XDL-Röntgenspektrometer haben eine gute Langzeitstabilität, was sich unter anderem in einem deutlich reduzierten Kalibrieraufwand widerspiegelt.
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