Rood Technology in Nördlingen, die deutsche Niederlassung der Rood Testhouse International, gibt bekannt, dass seine Fehler- und Technologie-Analysemöglichkeiten durch Focused Ion Beam (FIB)-Services erweitert wurden. Damit lassen sich Chipmodifikationen vornehmen, Schaltungsbearbeitungungen druchführen, Mikroquerschliffe erstellen oder TEM-Lamellen-Präparationen bewerkstelligen.
Diese Dienstleistungen können nicht nur an Bauelementen der bisherigen Mikrotechnologie sondern auch an Bauelementen der innovativen und zukunftsweisenden Nanotechnologie ausgeführt werden.
Zur professionellen Abwicklung dieser aufwändigen Dienstleistungen wurden FIB-Spezialisten eingestellt und weitere Verstärkung des Analyse-Teams ist geplant.
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