Mit dieser Lösung kann eine parallele Tester-per-Last-Architektur realisiert werden

Mit dieser Lösung kann eine parallele Tester-per-Last-Architektur realisiert werdenSyntel Testsysteme

Mit dieser Lösung kann eine parallele Tester-per-Last-Architektur realisiert werden, dies hat Vorteile bei Prüflingen mit vielen Ausgängen oder der parallelen Prüfung einzelner Geräte. Im 19-Zoll-Gehäuse mit 16 Einbauplätzen können einzelne programmierbare DC-Lasten mit 150/300/600 W, bis 500 V und Strömen von 30/60/120 A, beliebig bis 2400 W konfiguriert werden. Jede Last ist mit einem Messsystem mit digitalen Waveform Analyzer für Strom und Spannung ausgerüstet, diese Technik ersetzt externe Geräte wie DMM, Oszilloskop und Multiplexer mit der zugehörigen Verkabelung. Außerdem ist die parallele Abfrage aller Ausgänge gegeben, dies ergibt präzisere Aussagen über die Reaktion des Prüflings und schnellerem Durchsatz in der Fertigungsprüfung. Jede Last ermöglicht neben der grafischen Darstellung von Strom und Spannung, 20 weitere Standard-Messungen wie Power, Peak/Peak Noise (20MHz), Rise/Fall Time, Over-/Undershoot und so weiter. Digitale Ausgänge liefern Start/Stop/Trigger Signale für andere externe Geräte. Neben den Betriebsarten konstant Strom/Spannung/Leistung/Widerstand ist auch ein non-linear LED-Driver Mode und ein Maximum Power Point Tracking (MPPT) Mode für Solar Panels integriert. Die zugehörige Software erlaubt die Programmierung aller Parameter, andere Einstellungen und die Abfrage der Messwerte über ein graphisches Interface. Die Steuerung mit einem PC erfolgt über LAN Schnittstelle mit LabView oder anderen IVI-Com und IVI-C kompatiblen Sprachen.