23273.jpg

Schneider & Koch

Das Halbleiter-Testsystem TS-900 ist für Komponententests sowie System-On-Chip (SoC) und System-In-Package (SiP)-Testanwendungen konzipiert. Das modular aufgebaute und erweiterbare System für Digital- und Mixed-Signal-Testanwendungen überzeugt durch umfangreiche Funktionalität der Testsystemsoftware ATEasy, eine integrierte Adaptionsschnittstelle für bis zu 512 Testkanäle bei einer Datenrate bis 100 MHz sowie durch eine integrierte Per-Pin-PMU (Parametric Measurement Unit).