Keithley Instruments stellt zwei Erweiterungen für die Source Meter- Instrumente der Serie 2600 vor, mit der sich fortschrittliche und kostengünstige Lösungen für parametrische Analysen und Tests von Halbleitern realisieren lassen.

Die Modelle 2635 und 2636 bieten eine einzigartige Möglichkeit zur Durchführung von parametrischen Analysen mit Auflösungen von bis zu 1 fA. Auf Grund der mehrkanaligen Instrumenten-Architektur lassen sich zudem um 50 % niedrigere Kosten gegenüber konventionellen Mainframe-basierenden Source-Measure-Lösungen erreichen.

Mit dem Test Script Prozessor (TSP ) und dem TSP-Link -Bussystem können mit diesen Instrumenten problemlos schnelle Testsysteme realisiert werden, die ideal für die Forschung, Charakterisierung, Wafer-Sortierung, Zuverlässigkeitstests, Produktionsüberwachung und viele andere Testanwendungen geeignet sind.

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