Halbleiter-Charakterisierungs-System

Keithley Instruments hat das neue Halbleiter-Charakterisierungs-System Modell 4200-SCS vorgestellt, das eine DC-Charakterisierung in Laborgenauigkeit sowie die Aufzeichnung und Analyse der Messdaten in Echtzeit ermöglicht. Das Gerät zeichnet sich durch einfache Anwendung, hohe Präzision und Auflösung im Sub-Femto-Ampere Bereich aus. Die integrierte Software unterstützt den Benutzer bestmöglich bei der Einrichtung, Datenerfassung, Analyse und Datenspeicherung. Das Modell 4200-SCS unterstützt alle gängigen CV-Meter, Schaltmatrixtypen und entsprechenden Testeinrichtungen. Die integrierte PC-Plattform verfügt über eine Festplatte und kann somit die Daten speichern. Sowohl die Hardware, als auch die Software erlauben eine leichte, sichere Integration in die Datenbanken/Netzwerke das Datenerfassungsnetz der Fab. Die Daten lassen sich dabei im Excel- oder ASCII-Format speichern und bieten so eine maximale Kompatibilität. Eine universelle Netzwerk-Schnittstelle ermöglicht eine schnelle Verteilung der Daten.

Keithley Instruments
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