iC-MFL ist ein monolithisch integrierter, achtkanaliger Pegelanpassungsbau-stein zur Ansteuerung von Logic FETs. Die internen Schaltungsblöcke sind dabei so aufgebaut, dass die Ausgangsstufen des iC-MFL Bausteins bei Ein-fachfehlern durch offene Pins oder durch Kurzschluss zweier Ausgänge in den sicheren, definierten OFF-Zustand gehen. Das sichere Ausschalten der angesteuerten FETs ist somit bei einem Einfachfehler gewährleistet. Der ESD-geschützte Baustein ist jetzt auch für typische SIL/ASIL-Anwendungen nach AEC Q100 qualifiziert.

Typische Anwendungen sind der Betrieb von FETs aus 1.8 V, 3.3 V oder 5 V TTL- und CMOS-kompatiblen Systemen wie FPGAs, modernen Mikrocontrol-lern und Mikroprozessoren mit „Fail Safe“-Anforderungen an die funktionale Fehlersicherheit der Baugruppe gerade im Automotive Bereich. Eine auf den Baustein bezogene FMEA-Analyse war Grundlage der Entwicklung und steht dem Anwender zur SIL/ASIL-Qualifizierung seines Endgerätes zur Verfü-gung. Die Eingänge der acht Kanäle bestehen aus einem Schmitt-Trigger mit Pull-Down-Stromquelle und sind zu TTL- und CMOS-Pegeln (1,8 V bis 3,3 V bis 5 V) kompatibel und bis 18 V spannungsfest.

Zur Erhöhung der Eingangsstörsicherheit und Verringerung der Verlustleistung sind die Pull-Down-Widerstände zweistufig ausgeführt. Die acht Kanäle haben am Ausgang eine strombegrenzte Push-Pull-Endstufe und einen Pull-Down-Widerstand. Falls die Versorgungsspannung an VB unter eine definierte Schwelle fällt, schaltet die Spannungsüberwachung die Ausgänge aktiv in den OFF-Zustand. Fällt die Versorgungsspannung oder eine Masseverbindung aus, erreichen die Ausgänge trotzdem den sicheren OFF-Zustand.

Auch beim Kurzschluss zweier Ausgänge, mit einer aktiven HIGH-Pegel FET-Ansteuerung, überwiegt die Stromfähigkeit des OFF-Zustands-Treibers und hält somit die angeschlossenen FETs im sicheren ausgeschalteten Zustand. Die Bausteine arbeiten von -40 °C bis 125 °C und kommen im QFN24 Gehäuse ROHS konform.

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