742pr0518_Seica_Compact Digital-Next-17

Tester Compact Digital Next Seica

Die kompakten Systeme eignen sich für analoge und digitale In-Circuit-Tests, Analog-, Digital- und Leistungs-Funktionstests, Boundary-Scan-Tests, Onboard-Bauteilprogrammierung (Mikrokontroller, Speicher usw.) sowie Hochspannungstests. Das automatisierte Testequipment ist das Ergebnis intensiver Forschungsarbeit zum Senken der Testkosten. Schwerpunkte sind die Reduzierung des Platzbedarfs und der Testzeiten sowie die Abfallvermeidung. Dabei wurde auf die Kompatibilität mit den Testprogrammen und Testadaptern der Strategy Line geachtet. Alle Systeme der Compact Line basieren auf der VIP-Plattform, bestehend aus den Treiber- und Sensor-Kanälen der ACL-Instrumente und der Viva-Management-Software. Bei Bedarf lassen sich die Systeme auch durch andere Softwarepakete steuern. Außerdem entwickelt das Unternehmen kundenspezifische Lösungen.

SMT Hybrid Packaging 2018: Halle 5, Stand 220