Die Eigenschaften der Federkontaktstifte bieten zahlreiche Vorteile für die Chip-Kontaktierung, da sie unabhängig gefedert sind und durch ihre spezielle kronenförmige Kopfform einen optimalen elektrischen Kontakt zu Bump-Wafer-Prüflingen herstellen können. Insbesondere durch die selbstausrichtende und an mehreren Punkten kontaktierende Kolbenspitze entsteht ein besonders stabiler und gleichbleibender Kontaktwiderstand. Durch den spezifischen Aufbau der gefederten Kontaktstifte sind diese außerdem in der Lage, hohe Bandbreiten und Ströme zu realisieren und beschädigen dabei die Bumps weit weniger als herkömmliche Kontakttechnologien.

Die Feinprobe ist in verschiedenen Ausführungen mit verschiedenen Kontaktelementen verfügbar.

Die Feinprobe ist in verschiedenen Ausführungen mit verschiedenen Kontaktelementen verfügbar. FEINMETALL

Kontakt herstellen

Das 1964 in Herrenberg gegründete Unternehmen liefert ein breites Spektrum an Kontaktierungs-Lösungen für die Automobil-, Elektronik- und Halbleiterindustrie. Das Unternehmen investiert kontinuierlich in innovative Technologie- und Produktentwicklungen sowie in den Ausbau der weltweiten Vertriebs- und Servicestruktur.

Die Feinprobe von Feinmetall, Herrenberg, ist in verschiedenen Ausführungen mit verschiedenen Kontaktelementen verfügbar. Es sind bis zu 5.000 Kontaktstifte in einer Prüfkarte einsetzbar, das Raster kann bis 250 µm klein sein und es kann eine aktive Fläche von bis zu 60 mm x 60 mm realisiert werden. Weitere Details und Spezifikationen auf Anfrage.

Leucht-Kontaktstift ermöglicht geführtes Bestücken

Kabelbäume beinhalten eine Vielzahl an individuellen Steckern, die als Schnittstellen zu den elektrischen und elektronischen Geräten in Fahrzeugen dienen. Ein Arbeitsschritt bei der Fertigung von Kabelbäumen ist die Bestückung dieser Stecker mit den passenden Kabeln inklusive der Kontaktelemente (Terminals). Dieser Prozess erfolgt manuell, das heißt das Kabel wird beispielsweise über einen Barcode gescannt, die entsprechende Kontaktkammer, in die es eingeführt werden soll, wird angezeigt und das Kabel wird in die Kammer eingeführt bis das Kontaktelement einrastet. Im darauffolgenden Prozessschritt erfolgt ein elektrischer Durchgangstest.

In der FeinProbe-Prüfkarte zur Kontaktierung von Halbleitern werden als Kontaktelemente sehr feine Federkontaktstifte eingesetzt.  FEINMETALL

In der Feinprobe-Prüfkarte zur Kontaktierung von Halbleitern werden als Kontaktelemente sehr feine Federkontaktstifte eingesetzt. FEINMETALL

Mit dem von Feinmetall entwickelten LED-Kontaktstift wird die Modulkonstruktion erheblich vereinfacht. Durch eine im Kontaktstift integrierte Leuchtdiode wird direkt die zu bestückende Kontaktkammer angezeigt, in welche das Terminal eingeführt werden soll. Nachfolgend dienen dieselben Kontaktstifte zur elektrischen Kontaktierung des Steckers für die elektrische Durchgangsprüfung. Bisher bestehende Lösungen zur Kennzeichnung der zu bestückenden Kammer verwenden oft Glasfasern innerhalb der Kontaktkammer, die jedoch keine elektrische Kontaktierung ermöglichen. Eine Alternative ist die optische Anzeige für die korrekte Bestückung neben dem Stecker, was jedoch bei komplexeren Steckern nicht so eindeutig und einfach zu erkennen ist und leicht zu Fehlbestückungen führen kann. Im neuen LED-Kontaktstift sind die beiden Funktionen optische Indikation und elektrische Kontaktierung in einer Einheit zusammengeführt, sodass in einem einzigen Modul sowohl die Steckerbestückung als auch die elektrische Prüfung erfolgen kann. Dies reduziert die Durchlaufzeit und vermindert Fehler.