Angesichts der zunehmenden Kommerzialisierung der 5G-Millimeterwellen-Technologie durch Chiphersteller stehen Ingenieure vor der großen Herausforderung, Produktzeitpläne zu beschleunigen und gleichzeitig neue und häufig ungelöste technische Anforderungen zu erfüllen. Die Millimeterwellen-Testlösungen von National Instruments adressieren diese Herausforderungen sowohl für das Forschung- und Entwicklungslabor als auch die Serienproduktion. Merkmale der Testlösung sind die Messqualität für hohe technische Anforderungen im Labor sowie eine Architektur, die auf die spezifischen Anforderungen der Fertigungsprüfung von Millimeterwellenchips zugeschnitten ist. Mit der einheitliche Softwareumgebung wird zudem die Messung und Automatisierung vereinfacht.

Auf der modularen PXI-Plattform basierend

NI-Lösungen verwenden den mmWave-VST, der einen RF-Signalgenerator, einen RF-Signalanalysator und integriertes Switching mit 1 GHz Echtzeitbandbreite bei Frequenzen von bis zu 44 GHz kombiniert. Der VST kann zusätzlich zu den im Labor vorhandenen PXI-basierten Charakterisierungssystemen nativ in das Semiconductor Test System (STS) integriert und für Anwendungen in der Serienfertigung eingesetzt werden. Ein Tester basierend auf der modularen PXI-Plattform unterstützt Ingenieure bei der schnellen und kosteneffizienten Integration neuer Messfunktionen wie 5G in ihre Prüfzelle und verringert darüber hinaus das Risiko einer verzögerten Markteinführung.

Das Produkt bietet verschiedene Neuerungen, um die Anforderungen beim Testen von 5G-Millimeterwellen-Geräten zu erfüllen. Das neue kalibrierte integrierte Switching für bis zu 32 Kanäle sorgt für eine höhere Genauigkeit von Beamforming- und Phased-Array-Messungen ohne zusätzliche Infrastruktur. Das modulare Design ermöglicht genaue und kosteneffiziente Messungen bei gleichzeitiger Aufwärtskompatibilität mit zukünftigen 5G-Bändern. Mit diesen Innovationen können Ingenieure gleichzeitig Messungen bei 5 bis 21 GHz und 26 bis 44 GHz durchführen.