Mit dem M Cute- und dem MCA-Microadpter von Microcontact lassen sich unbestückte und bestückte Substrate mit Strukturen bis zu Padabstand von 200 mm und Padbreite von 100 mm halbautomatisch und wirtschaftlich testen.


Mit der Kamera wird das Druckbild erfasst und der Druckversatz kann in X-, Y- und Teta-Richtung korrigiert werden. Es können Nutzen bis 4“ x 6“ in 2 bis 3 Prüfstepps getestet werden. Die unbestückten Leiterstrukturen werden auf Verbindung, Isolation und Widerstand gemessen, bestückte Produkte über entsprechende Funktionsmesstechnik.


Die Bedienersoftware ermöglicht eine klare Zuweisung der fehlerhaften Einzelsubstrate für eine korrekte Entwertung. Die statistische Fehlerauswertung hilft für eine rasche Erkennung von Prozessfehlern auf den geprüften Teilen.

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