elektronik industrie im Dezember: Messtechnik und Power

Gleich zu Beginn des Heftes behandelt die Coverstory die Verwendung von Hochleistungs-Kompakt-Oszilloskopen zur Produktionsüberwachung in Forschung und Produktion. Mehrkanal-Messung, kompakte Abmessungen und hohe Performance – die Anforderungen an Messgeräte in Forschung und in Produktionsüberwachung sind hoch. Benchtop-Geräte kommen dafür oftmals nicht infrage. Allerdings gibt es mit kompakten Hochleistungsoszilloskopen Alternativen, die Jitter- und Mehrkanalmessungen sowie die passende Analyse ermöglichen.

Anschließend folgt der Stromversorgungsteil, der sich dem Übergang auf IEC 62368-1 widmet und was Entwickler dabei berücksichtigen müssen. Außerdem zeigen wir bleifreie Alternativen zu Hochstromkontakten in Elektronikanwendungen. Ein weiterer Artikel erläutert, wie sich der Wirkungsgrad von Sperrwandlern mit Emitter Switching verbessern lässt.

In der Leistungselektronik zeigen wir drei Schlüsselkomponenten für ein SiC-Gesamtlösungssystem und erklären, wie diese den Design-In-Prozess sowie die Evaluierung vereinfachen können. Zudem wagen wir einen Blick in die SiC-Kristallkugel und zeigen Weiterentwicklungen die SiC zu einer rosigen Zukunft verhelfen.

Mit entsprechend hoher Leistung entsteht auch Wärme, mit der es umzugehen gilt. Eine mögliche Lösung dafür sind Aluminium-Kühlkörper. Wir zeigen Grenzen und die Verwendung solcher Kühlkörper.

Das alles und noch vieles mehr finden Sie in der aktuellen Ausgabe, die wir Ihnen jetzt ganz klassisch auf Papier, aber auch als E-Paper präsentieren.