Mixed-Signal-Oszilloskop mit acht 6-GHz-Kanälen

Digitale Hochgeschwindigkeitsdesigns, Verifizierung der Leistungsintegrität, Wi-Fi 6, IoT, IIoT und Imaging sowie Galliumnitrid- (GaN-) Halbleiter nutzen Frequenzen zwischen 2 GHz und 6 GHz. Das Testen dieser neuen Produkte erfordert Messgeräte für den Zeit- und Frequenzbereich, die in der Lage sind, analoge und digitale Kanäle gleichzeitig zu nutzen.

Die zwölf upgradebaren vier- und achtkanaligen 500-MHz- bis 6-GHz-Oszilloskope verfügen über einige, aus den 110-GHz-MXR-Oszilloskopen bekannten InP-, SiGe- und Si-ASICs, die zu acht Messgeräten in einem einzigen Gerät führen, darunter Echtzeit-Spektrumanalysator (320 MHz span), Oszilloskop, vierstelliges Digital-Voltmeter, 50-MHz-Funktionsgenerator, Bode-Diagramm-Plotter, Frequenzzähler, Protokollanalysator und ein 16-Bit-Logikanalysator (optionell). Ergänzt wird es durch eine umfangreiche Suite von Softwarelösungen, die sich auf Leistungsintegrität, digitale Hochgeschwindigkeitstests und Verifizierung konzentrieren. Die integrierte Software umfasst eine Fehlersuchfunktion, die die Identifizierung und Behebung seltener oder zufällig auftretender Fehler beschleunigt.

Acht Messgeräte in einem einzigen Gerät reduzieren Probleme durch Übersprechen. Durch die Integration eines Echtzeit-Spektrumanalysators wird selbst bei asynchronen Fehlern eine sehr hohe Erkennungswahrscheinlichkeit im Frequenzbereich erreicht. Eine eingebaute Fehlersuchfunktion erlernt normale Signale und vergleicht sie, um abnormale Signale zu finden. Dabei wird auch alles andere erfasst, was beim Auftreten der abnormalen Signale geschieht. Dies führt zu einer raschen Problemlösung bei der Fehlersuche bei unregelmäßigen, zufälligen oder falschen Signalen. Die Speichertiefe beträgt standardmäßig 200 M Punkte (optional 400 M Punkte). Die Remote-Zusammenarbeit mit der Offline-Analysesoftware Pathwave ermöglicht es nach Abschluss der Prüfstandsmessungen umfangreiche Analysen und Datenmanipulationen durchzuführen.

(jj)