Herstellern von Multilayer-Leiterplatten bietet sich jetzt eine Lösung zur Untersuchung übergroßer Formate. Der ML-Inspector XXL ist das neueste Gerät in der Familie der Mikrofokus-Röntgeninspektionssysteme für ML-Leiterplatten von Phoenix X-Ray. Aufbauend auf dem erfolgreichen Konzept des ML-Inspectors bietet dieses System eine deutlich größere Durchlichtfläche von 1 400 mm x 650 mm für übergroße Leiterplatten. Das System ist wahlweise mit einer 80- oder 100 kV-Röntgenröhre ausgestattet und erreicht eine Detailerkennbarkeit von 3 bzw. 4 ?m. Es ist hervorragend geeignet für die zuverlässige Restringbreitenbestimmung und die Inspektion von Microvias. Die Autopositionierung erlaubt die Untersuchung auch größerer Stückzahlen in der Fertigung. Das Gerät ist uneingeschränkt im Schichtbetrieb einsetzbar und findet dort wegen der einfachen Bedienbarkeit besondere Akzeptanz.

Fax 07 11/8 87 65 29

www.phoenix-xray.com