Das Halbleiter-Charakterisierungssystem Modell 4200-SCS mit integrierter Software KTEI v5.0 (Keithley Test Environment-Interactive) von Keithly Instruments bietet nicht nun auch die Möglichkeit für Stress- und Zuverlässigkeitstests zur Analyse der Bauteillebensdauer und zur Qualitätssicherung. Mittels einer einfachen Maussteuerung sind Strom/Spannungsmessungen an Bauteilen wie Transistoren, Widerständen und Dielektrikas mit bis zu acht unabhängigen Kanälen möglich. Die Software lässt sich in Windows NT und XP einsetzen und bietet umfassende Funktionen für die Testdefinition, Parameteranalyse, graphische Darstellung und Automatisierung für die Halbleiter-Charakterisierung und für Zuverlässigkeitstests.