JTAG Functional Test (JFT) ist ein Werkzeug zur Überprüfung von komplexen Non-Boundary Scan-Clustern, das in Ergänzung zum bereits bestehenden Active Test-Tool eine deutliche Vereinfachung bedeutet, und zwar bei der Testvorbereitung und Interpretation der Ergebnisse bei sequenziellen Clustern, dem Test von Mixed-Signal-Bauteilen wie ADCs und DACs sowie dem Test von Bauteilen, die einen Anwendereingriff, die Wiederholung von Testmustern zur Einstellung von Bauteilregistern, etc. erfordern. JFT ist das erste Produkt im Bereich der Boundary-Scan Technologie, das eine Open Source Programmiersprache nutzt. Die Lösung ermöglicht die Überprüfung der Funktionalität von Non-JTAG-Bauteilen oder Clustern mit Hilfe von JTAG Bauteilen. JFT ist als Einsteckkarte für das Pro Vision-Tool von JTAG Technologies erhältlich.

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