3D-SPI-System CKD VP9000

3D-SPI-System CKD VP9000 Omron/Atecare

Bei der Bestellung des Systems stehen drei verschiedene Auflösungen zur Verfügung (25, 20 oder 15 µm). Jede dieser Auflösungen lässt sich jeweils pro Field of View (FOV) nochmals dritteln, sodass auch sehr kleine Strukturen sauber zu messen sind. Neben der klassischen Pasteninspektion sind auch Prüfungen für Kleber, Underfil und eine generelle Schmutzsuche möglich. Umfangreiche Loop-Lösungen können angeboten werden und auch Bild- und Messinformationen an AOI- und AXI-Stationen sind abrufbar. Patentiert ist die gleichzeitige 2D- und 3D-Darstellung mit Messwerten für Analyseaufgaben.

Productronica 2019: Halle A2, Stand 331