Mit GP Nano-D von GP Solar Inspect können Microcracks und andere Waferdefekte sowohl bei der Waferproduktion als auch bei der Solarzellenherstellung detektiert werden. Die patentierte Technologie führt zu einer klaren Trennung von Wafern mit Defekten und guten Wafern. Das Inline-System prüft auf der Basis der Streuung des Lichts innerhalb des Cracks. Zwischen offenen oder geschlossenen Cracks besteht für das Prüfsystem kein Unterschied, denn dieses patentrechtlich geschützte Prüfprinzip wird nicht durch Korngrenzen in multikristallinem Silizium beeinflusst. Die hohe Erfassungsgeschwindigkeit und der schnelle Erkennungsalgorithmus sorgt für eine 100 prozentige Überwachung bei Durchsätzen von 1 Wafer/s und mehr.

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