Quelle: Nikon

Quelle: Nikon

Das Prüfsystem XT V 130 von Nikon Metrology spürt Fehler innerhalb von komplexen elektronischen Komponenten und Multilayer-Leiterplatten auf. Es ist mit 1 m² Grundfläche ein äußerst kompaktes und zugleich kostengünstiges Modell für die automatisierte Qualitätskontrolle von in Serie produzierten elektronischen Komponenten. Das System verfügt über eine leistungsstarke offene 30 bis 130 kV Mikrofokusröhre und ist mit einem 4-achsigen programmierbaren Manipulator sowie mit einem auf einem 4”-Bildverstärker basierenden 16-Bit Bildverarbeitungssystem ausgestattet. Ein bis zu 3 ?m kleiner Brennfleck sowie eine bis zu 320 fache geometrische Vergrößerung und bis zu 60° Neigungswinkel sorgen für eine hervorragende Bildqualität und Flexibilität. Ein Rotationstisch sowie CT-Scanfähigkei sind optional erhältlich. Eine Flügeltür bietet einfachen Zugang zum Scanbereich, der Proben mit Abmessungen bis zu 40 x 35 cm aufnehmen kann. Qualitativ hochwertige Röntgenbilder in Echtzeit ermöglichen dem Bediener eine benutzerfreundliche Navigation durch die verschiedenen Layer einer Leiterplatte oder durch ein elektronisches Bauteil. Dabei kann der Bediener mit Hilfe eines Joysticks die Positions-, Winkel- und Zoomeinstellungen verändern.

459pr0210