Die flexible, modulare PXI-3000-Plattform wurde um neue LTE-Messfunktionen erweitert: Durch schnellere Produktionstests lässt sich die Zeit bis zur Serienreife von Hochfrequenzkomponenten und LTE-Endgeräten verkürzen. Mit der neuen Messfolgen-Option PXI-3000-Instrumente lassen sich kostenkünstige modulare PXI-Geräte für die Charakterisierung von LTE-Terminals, -Chipsätzen und ?HF-Komponenten einsetzen. LTE-Terminals vereinen in einem Gerät LTE mit älteren Standards und vereinfachen so das Testen.