Die QVS-Station von 4Jet verifiziert die Qualität der Randentschichtung von Dünnschicht-PV-Modulen schon vor der Lamination. Das Tool erlaubt die vollflächige Isolationsmessung der entschichteten Bereiche über eine variable Zeitdauer mit Hochspannung. Das System erkennt dabei auch leitende Rückstände durch Umdampfungen auf der Glasseite und dem C-Schliff der Substrate. Durch die segmentweise Vermessung der Substrate lassen sich Rückschlüsse auf systematische Probleme bei vorgeschalteten Prozessen treffen. Die kompakte Station kann optional auch mit weiterer Prüfsensorik bestückt werden und kann standalone, oder als verkettete Anlage im Backend installiert werden. Die Prüfstrategie ist für a-Si, ?c-Si, CIGS und CdTe Solarzellen geeignet.  

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