Die Inline-Lösung CVD Coating Inspection von Basler dient zur Kontrolle der Halbleiterbeschichtung von Dünnschichtmodulen. Hierbei können sowohl die Anzahl als auch die Verteilung von Löchern in der Beschichtung ermittelt werden. Mit derselben Lösung nur hinter der Laser-Strukturierung eingesetzt, lassen sich zusätzlich Qualität und Geometrie der Zellstruktur überprüfen. Die Sensic Thin-Film Inspection-Familie dient der Endkontrolle der Dünnschicht-Solarmodule. Sie umfasst die Prüfung der Laminierung im Rand- und photoaktiven Bereich auf Blasen, sie erkennt Kratzer und Ausbrüche und kann die Lage und das Vorhandensein von Busbars überprüfen.

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