Smart Testing bedeutet unter anderem, dass an jedem Pin die jeweilige Taktfrequenz anliegen kann. Dies ermöglicht die volle Testabdeckung durch Anpassung an die genau erforderliche Datenrate des zu testenden Bausteins (DUT). Kombiniert mit anderen wichtigen Leistungsmerkmalen wie etwa Stromversorgungsmodulation, Jitter Injection und Protokollkommunikation können systemähnliche Stresstests jetzt auf ATE-Ebene durchgeführt und so die Fehlermodellabdeckung verbessert werden.
Jede der vier Smart-Scale-Testerklassen – bezeichnet mit A, C, S und L – hat einen unterschiedlich großen Testkopf. Dies ermöglicht Verigy, für jede spezifische Applikation des Kunden die effizienteste Lösung anzubieten.
Hans-Juergen Wagner, Executive Vice President of SoC-Test bei Verigy, betont: „Da die Testerklassen kompatibel sind, können Anwender ihre Halbleiterbauteile schnell und einfach von einer auf eine andere Smart-Scale-Klasse portieren, falls sich das Produktionsvolumen von ICs im Verlauf ihres Lebenszyklus ändert. Kein anderer Hersteller von automatisierten Testsystemen bietet diese Möglichkeit an.“
Das Konzept bietet mehr Möglichkeiten beim Paralleltest sowie eine Full-Performance-Lösung für Wafer-Sort und erfüllt damit kritische Leistungsanforderungen zum Test moderner SoC-Bausteine, SiP-Komponenten und WLCSPs (Wafer-Level-Chip-Scale Packages). Das folgende Hersteller-Video erklärt die Vorteile der neuen Generation.
Digitale Kanalkarten
Neben seinen V93000 Smart-Scale-Testern bringt Verigy auch drei weitere digitale Kanalkarten auf den Markt. Die Pin Scale 1600-Digitalkarte und Pin Scale 1600-ME Card (Memory Emulation) bieten umfangreiche Funktionen auf jedem digitalen Kanal. Zusätzlich zu ihren Datenraten von DC bis 1,6 Gbps (Gigabit pro Sekunde) – doppelt so schnell wie frühere Generationen – verdoppeln oder vervierfachen diese Karten auch die Integrationsdichte bisheriger Pin-Cards. Die hochintegrierten Karten mit kleinem Formfaktor enthalten Clock-Domain-per-Pin, Protocol-Engine-per-Pin, PRBS per Pin und Smartloop-Testfähigkeiten für symmetrische Hochgeschwindigkleitsschnittstellen. Ferner bieten sie Präzisions-DC-Fähigkeiten und erlauben asynchrones Testing für hohe Multi-Site-Effizienz und Concurrent-Testing.
Die Pin Scale 9G-Card macht At-Speed-Tests erschwinglich. Durch Kombination von Datenraten von bis zu 8 Gbps mit der gleichen Per-Pin-Vielseitigkeit wie der Pin Scale 1600 maximiert diese Karte die Pin-Nutzung bei gleichzeitiger Minimierung ungenutzter Ressourcen. Sie unterstützt bidirektionale Fähigkeiten auf allen Pins sowie massebezogene und differentielle Betriebsarten. Außerdem eignet sich die Karte sowohl für Pattern- wie auch für Pattern-lose Tests, um die große Mehrheit von Testanforderungen zu adressieren – angefangen bei parallelem I/O-Testing für Designverifikation bis hin zu seriellem Physical-Layer-Testing in der Massenfertigung.
(hb)
